[发明专利]校正装置、概率密度函数测量装置、抖动测量装置、抖动分离装置、电子器件、校正方法、程序以及记录介质

权利要求书

1.一种校正装置，是用于校正概率密度函数的校正装置，该概率密度函数是从以相对于预定的时间间隔的理想时序具有误差的选通时序，对测量对象的特性进行测量后的测量结果得到的概率密度函数，该校正装置具有：

插值部，其被给予测量结果的累积密度函数，对前述累积密度函数的各个选通时序之间的值进行插值后，算出在各个前述理想时序中的前述累积密度函数的值，以计算出在前述理想时序中的校正累积密度函数；以及

校正函数产生部，其基于前述插值部所算出的前述校正累积密度函数，来生成在前述概率密度函数中的前述选通时序的误差被校正后的校正概率密度函数。

2.如权利要求1所述的校正装置，其中：

前述校正函数产生部，基于相邻的前述理想时序中的前述校正累积密度函数的值的差，生成前述校正概率密度函数。

3.如权利要求1或2所述的校正装置，其中还具有：

累积密度函数算出部，其被给予前述概率密度函数，通过累计各个前述选通时序中的前述概率密度函数的值而计算出前述累积密度函数，并将所算出的前述累积密度函数提供给前述插值部。

4.如权利要求1至3中的任意一项所述的校正装置，其中：

前述理想时序，是相对于固定的时间间隔的设定值的线性的时序；

前述校正装置，接收前述概率密度函数，该函数是以相对于前述设定值的非线性的前述选通时序进行测量的测量结果。

5.一种校正装置，是用于校正概率密度函数的校正装置，所述概率密度函数是从以相对于预定的时间间隔的理想时序具有误差的选通时序，对测量对象的特性进行测量后的测量结果所得到的的概率密度函数，其中：

该校正装置生成校正概率密度函数，该校正概率密度函数是，针对作为前述选通时序中的前述测量结果的累积密度函数，将前述累积密度函数的各个选通时序之间的值进行插值，计算出在前述理想时序中的校正累积密度函数，并与基于前述校正累积密度函数而生成前述概率密度函数时得到的函数等效的校正概率密度函数。

6.一种概率密度函数测量装置，是对测量对象的概率密度函数进行测量的概率密度函数测量装置，其具备：

取样部，其利用相对于预定的时间间隔的理想时序具有误差的选通时序来对前述测量对象的特性进行测量，并生成测量结果的概率密度函数；

插值部，其被给予前述测量结果的累积密度函数，对前述累积密度函数的各个选通时序之间的值进行插值，并算出在各个前述理想时序中的前述累积密度函数的值，以算出在前述理想时序中的校正累积密度函数；以及

校正函数产生部，其基于前述插值部所算出的前述校正累积密度函数，来生成在前述概率密度函数中的前述选通时序的误差被校正后的校正概率密度函数。

7.如权利要求6所述的概率密度函数测量装置，其中还具备：

误差检测部，其检测相对于前述理想时序的前述选通时序的误差；

前述插值部，还基于前述误差检测部所检测到的误差，来生成前述校正概率密度函数。

8.如权利要求7所述的概率密度函数测量装置，其中：

前述理想时序，是相对于固定的时间间隔的设定值的线性的时序；

前述取样部，以相对于前述设定值非线性的前述选通时序来对测量对象进行测量；

前述误差检测部，检测前述选通时序的非线性特性。

9.一种抖动测量装置，是对被测量信号的抖动值进行测量的抖动测量装置，其具备：

概率密度函数测量装置，其测量前述被测量信号的抖动值的概率密度函数，且是权利要求6至8中的任意一项所述的概率密度函数测量装置；以及

抖动值算出部，其基于前述概率密度函数测量装置所生成的前述校正概率密度函数，计算出前述被测量信号的抖动值。

10.一种抖动分离装置，是从被测量信号的抖动的测量结果，分离确定成分和随机成分的至少一方的抖动分离装置，其具备：

概率密度函数测量装置，其测量前述被测量信号的抖动值的概率密度函数，且是权利要求6至8中的任意一项所述的概率密度函数测量装置；以及

分离部，其根据前述概率密度函数测量装置所生成的前述校正概率密度函数，将前述确定成分和前述随机成分的至少一方进行分离。