[发明专利]光学位置检测设备无效
申请号: | 201080018251.2 | 申请日: | 2010-04-19 |
公开(公告)号: | CN102422251A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | 小川保二 | 申请(专利权)人: | 株式会社施乐库;株式会社伊特 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042;G06F3/041 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 黄刚;车文 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 位置 检测 设备 | ||
1.一种光学位置检测设备,所述光学位置检测设备能检测将输入到检测区域的指示器的指示位置,所述光学位置检测设备包括:
反向反射构件,所述反向反射构件设置在所述指示器上,或设置为覆盖所述检测区域的周边的至少一部分;和
检测单元,所述检测单元设置在所述检测区域的周边的一个部分处,并通过利用从所述反向反射构件反射的反射光来检测所述指示器的指示位置,所述检测单元包括至少两个检测部分,每个检测部分具有发出沿所述检测区域的表面方向行进的光的光源部分和将从所述光源部分发出的且被所述反向反射构件反射的光成像的照相机部分,其中
所述光源部分具有足够宽以用光照射整个检测区域的照射角度,
所述照相机部分包括超宽角度透镜和图像传感器,所述照相机部分设置为靠近所述光源部分,且具有足够宽以将整个检测区域成像的观察角度,并且
所述两个检测部分布置为使得所述两个检测部分之间的距离小于所述检测区域的在从所述检测单元向所述检测区域的方向上观察的宽度。
2.根据权利要求1所述的光学位置检测设备,其中所述光源部分包括复曲面透镜和多个LED。
3.根据权利要求2所述的光学位置检测设备,其中所述超宽角度透镜和/或所述复曲面透镜由透镜树脂模制。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的光学位置检测设备,其中所述超宽角度透镜形成为薄形透镜,所述薄形透镜的上平面表面和下平面表面沿所述检测区域的所述表面方向延伸,且所述超宽角度透镜与所述光源部分堆叠。
5.根据权利要求1至4中的任一项所述的光学位置检测设备,其中所述检测单元包括三个检测部分,所述三个检测部分设置为使得在所述三个检测部分中的在两侧的两个检测部分之间的距离小于所述检测区域的在从所述检测单元向所述检测区域的方向上观察的宽度,且剩余的一个检测部分设置在所述两个检测部分之间。
6.根据权利要求1至5中的任一项所述的光学位置检测设备,其中所述检测单元可拆卸地附接到所述检测区域的周边的一个部分。
7.根据权利要求1至6中的任一项所述的光学位置检测设备,其中设置为覆盖所述检测区域的周边的至少一部分的所述反向反射构件可拆卸地附接到所述检测区域的周边。
8.根据权利要求6或7所述的光学位置检测设备,其中所述检测单元和/或所述反向反射构件具有磁体,用于可拆卸地附接到所述检测区域的周边。
9.根据权利要求8所述的光学位置检测设备,进一步包括在所述检测区域的周边内的定位基部构件,所述定位基部构件由铁磁材料制成,设置在所述检测单元和/或所述反向反射构件内的所述磁体能附着到所述定位基部构件。
10.根据权利要求1至9中的任一项所述的光学位置检测设备,其中所述检测单元同时检测多个指示器的指示位置。
11.一种光学位置检测设备,所述光学位置检测设备能检测指示在检测区域上的指示位置,所述光学位置检测设备包括:
指示器,所述指示器在所述指示器的尖端部处具有光源;和
检测单元,所述检测单元设置在所述检测区域的周边的一个部分处,并通过利用从所述指示器的所述光源发出的光来检测所述指示器的指示位置,所述检测单元包括至少两个照相机部分,所述至少两个照相机部分将从所述指示器的所述光源发出的光成像,其中
所述照相机部分中的每个照相机部分包括超宽角度透镜和图像传感器,并具有足够宽以将整个检测区域成像的观察角度,并且
所述两个照相机部分布置为使得所述两个照相机部分之间的距离小于所述检测区域的在从所述检测单元向所述检测区域的方向上观察的宽度。
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