[发明专利]表征颗粒的方法无效
| 申请号： | 201080018991.6 | 申请日： | 2010-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN102414552A | 公开（公告）日： | 2012-04-11 |
| 发明（设计）人： | 许人良;杨益明 | 申请（专利权）人： | 贝克曼考尔特公司 |
| 主分类号： | G01N15/12 | 分类号： | G01N15/12 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 傅强国;贾师英 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 表征 颗粒 方法 | ||
1.一种表征存在于具有更高浓度小颗粒的颗粒混合物中的大颗粒的方法，该方法包括：
(a)在电解质中制备混合物的悬浮液；
(b)使所制备的悬浮液和其中的多个颗粒通过能够根据库尔特原理来表征颗粒的仪器的孔，以便获得颗粒的数据；以及
(c)由得到的数据得出粒径分布，
其中，所述悬浮液含有至少一个小颗粒每孔体积，其中所述大颗粒的平均直径比所述小颗粒的平均直径至少大5倍，所述孔的直径(i)比所述小颗粒的平均直径至少大50倍，并且(ii)比所述大颗粒的平均直径大大约1.2倍至小于比所述大颗粒平均直径大大约50倍。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述悬浮液含有至少30个所述小颗粒每孔体积。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述悬浮液含有至少400个所述小颗粒每孔体积。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述悬浮液含有至少3100个所述小颗粒每孔体积。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述大颗粒的平均直径比所述小颗粒的平均直径大至少10倍。
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述大颗粒的平均直径比所述小颗粒的平均直径大至少20倍。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述大颗粒的平均直径比所述小颗粒的平均直径大至少50倍。
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述孔的直径比所述大颗粒的平均直径大大约5-40倍。
9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述孔的直径比所述大颗粒的平均直径大大约10-30倍。
10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述孔的直径比所述大颗粒的平均直径大大约15-25倍。
11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述大颗粒含有第一组和第二组的大颗粒，其中第一组大颗粒的平均直径比所述小颗粒的平均直径大至少5倍，第二组大颗粒的平均直径比所述第一组大颗粒的平均直径大至少2.5倍。
12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述第二组大颗粒的平均直径比第一组大颗粒的平均直径大至少5倍。
13.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述第二组大颗粒的平均直径比第一组大颗粒的平均直径大至少10倍。
14.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述小颗粒的浓度比大颗粒的浓度大至少10倍。
15.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述小颗粒的浓度比大颗粒的浓度大至少1000倍。
16.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述小颗粒的浓度比大颗粒的浓度大至少100000倍。
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