[发明专利]生成和交换用于在无线网络中进行覆盖优化的测量信息有效
申请号: | 201080020033.2 | 申请日: | 2010-05-07 |
公开(公告)号: | CN102422665B | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | A·恰托维奇;F·德安杰利斯 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | H04W24/02 | 分类号: | H04W24/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 张立达,王英 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 生成 交换 用于 无线网络 进行 覆盖 优化 测量 信息 | ||
相关申请的交叉引用
本申请要求享有于2009年5月8日提交的、名称为“Method and Apparatus for Generating and Exchanging Information for Coverage Optimization in Wireless Networks”的美国临时专利申请序号61/176,644的优先权。将前述申请的全部内容通过引用纳入本申请。
技术领域
下面的说明概括而言涉及无线通信,具体而言,涉及生成和交换有助于分布式覆盖优化的信息的方法和装置。
背景技术
广泛部署了无线通信系统,以提供各种类型的通信内容,例如语音、数据等等。这些系统可以是能够通过共享可用的系统资源(例如,带宽和发射功率)来支持多个用户进行通信的多址系统。这种多址系统的例子包括码分多址(CDMA)系统、时分多址(TDMA)系统、频分多址(FDMA)系统、3GPP长期演进(LTE)系统和正交频分多址(OFDMA)系统。
一般地,无线多址通信系统可同时支持多个无线终端进行通信。每个终端通过前向链路和反向链路上的传输与一个或多个基站进行通信。前向链路(或下行链路)指的是从基站到终端的通信链路,而且反向链路(或上行链路)指的是从终端到基站的通信链路。该通信链路可通过单输入单输出、多输入单输出或多输入多输出(MIMO)系统来建立。
MIMO系统使用多个(NT)发射天线和多个(NR)接收天线进行数据传输。由NT个发射天线和NR个接收天线组成的MIMO信道可分解成NS个独立的信道,其也称为空间信道,其中NS≤min{NT,NR}。NS个独立信道中的每一个对应于一个维度。如果使用由多个发射和接收天线建立的额外的维数,MIMO系统可提供改善的性能(例如,更高的吞吐量和/或更高的可靠性)。
MIMO系统支持时分双工(TDD)和频分双工(FDD)系统。在TDD系统中,前向和反向链路传输处于相同的频率范围,使得互易原理允许根据反向链路信道对前向链路信道进行估计。这使得当多个天线在接入点处可用时接入点能够在前向链路上提取发射波束成形增益。
无线通信中的具体部署的目标已经朝着改进覆盖和容量发展。实际上,提供足够的服务小区覆盖质量以及扩大网络容量是网络运营商所进行的网络优化活动中非常想达到的目标。寻找减少在网络中进行覆盖和容量优化(CCO)的成本的方法对于运营商的投资回报(ROI)特别地重要。相应地,当前在3GPP中正在寻求对自优化网络(SON)能力进行标准化,其中,CCO是具有SON能力的网络中正在3GPP中进行标准化的主要功能之一。然而,目前具有SON能力的网络常常是低效的,因为它们过分依赖于集中式的基础结构来进行这种自优化。因此人们希望能够开发出有助于使具有SON能力的网络更加有效的方法和装置。
前面所描述的当前无线通信系统的缺陷仅仅是用来给出对传统系统中一部分问题的概述,而并非是穷尽的。通过阅读下面的描述,传统系统具有的其它问题以及本申请描述的各种非限制性实施例所具有的相应益处将变得更加明显。
发明内容
下面简单地概括一个或多个实施例,以便对这些实施例有一个基本的理解。发明内容部分不是对能联想到的所有实施例的全面概述,既不是要确定所有实施例的关键或重要组成部分,也不是要界定任何一个实施例或所有实施例的范围。唯一的目的是简单地描述一个或多个实施例的一些概念,以此作为后面的详细说明的序言。
根据一个或多个实施例及其相应的公开,结合在无线网络中生成和交换覆盖优化信息描述了各个方面。根据一方面,公开了有助于进行分布式覆盖优化的方法和计算机程序产品。在该实施例内,与至少一个外部实体建立通信,以及从所述至少一个外部实体接收与覆盖有关的测量。然后根据所述与覆盖有关的测量对覆盖参数进行自优化。
根据另一方面,公开了有助于进行分布式覆盖优化的装置。在该实施例内,所述装置包括处理器,其配置为执行存储在存储器中的计算机可执行组件。所述计算机可执行组件包括通信组件和优化组件。对于该实施例,所述通信组件配置为从至少一个外部实体接收至少一个与覆盖有关的测量,而所述优化组件配置为根据所述至少一个与覆盖有关的测量来对覆盖参数进行自优化。
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