[发明专利]液晶面板和液晶面板检查方法无效
| 申请号： | 201080020640.9 | 申请日： | 2010-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN102422209A | 公开（公告）日： | 2012-04-18 |
| 发明（设计）人： | 端山贵文 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G02F1/1337 | 分类号： | G02F1/1337;G01N21/35 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 液晶面板 检查 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种液晶面板，其特征在于：
在该液晶面板中，在TFT基板与CF基板的相对面形成有由聚酰亚胺构成的液晶取向膜，在所述TFT基板与CF基板之间封入有液晶，
在所述TFT基板一侧形成有金属膜，该金属膜能够从所述CF基板一侧被光学识别，并且在对覆盖该金属膜的所述液晶取向膜的酰亚胺化度进行测定时成为红外光反射板。
2.如权利要求1所述的液晶面板，其特征在于：
所述金属膜作为所述TFT基板的栅极配线或源极配线的一部分形成。
3.如权利要求1所述的液晶面板，其特征在于：
所述金属膜配置在显示区域外的黑矩阵区域，在所述CF基板的黑矩阵形成有能够对所述金属膜进行光学识别的透视部。
4.如权利要求2所述的液晶面板，其特征在于：
所述金属膜配置在显示区域外的黑矩阵区域，在所述CF基板的黑矩阵形成有能够对所述金属膜进行光学识别的透视部。
5.如权利要求1所述的液晶面板，其特征在于：
所述金属膜作为所述TFT基板的补偿电容配线的一部分形成。
6.一种液晶面板检查方法，其特征在于：
对权利要求1～5中任一项所述的液晶面板的、覆盖所述金属膜的液晶取向膜，应用傅里叶变换红外分光光度计的显微反射测定，利用所述液晶取向膜的红外吸收光谱，测定该液晶取向膜的酰亚胺化状态。
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