[发明专利]磁通门传感器及使用其的电子方位计无效
申请号: | 201080021371.8 | 申请日: | 2010-05-21 |
公开(公告)号: | CN102428380A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 大森贤一;相沢卓也;中尾知 | 申请(专利权)人: | 株式会社藤仓 |
主分类号: | G01R33/05 | 分类号: | G01R33/05;G01R33/02;G01C17/30 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李伟;王轶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁通门 传感器 使用 电子 方位 | ||
1.一种磁通门传感器,其包含:形成于基板上的第1配线层;以覆盖上述第1配线层的方式形成的第1绝缘层;磁芯,该磁芯形成于上述第1绝缘层上,具有中央部分和位于上述中央部分的两端的第1以及第2端部分,该第1以及第2端部分与上述中央部分连接且具有比上述中央部分的宽度宽的宽度;覆盖上述磁芯且形成于上述第1绝缘层上的第2绝缘层;以及形成于上述第2绝缘层上的第2配线层,
该磁通门传感器的特征在于,
上述第1配线层以及上述第2配线层具有多个彼此大致平行的配线,
上述第1配线层的配线以及上述第2配线层的配线的两端经由上述第1绝缘层以及上述第2绝缘层的被选择性去除的部分而被电连接,
在上述第1以及第2端部分卷绕螺旋状的第1电磁线圈,
在上述中央部分卷绕螺旋状的第2电磁线圈。
2.根据权利要求1所述的磁通门传感器,其特征在于,
上述第1以及第2端部分的宽度B与上述第1以及第2端部分的长度方向的长度D的比B/D的值小于1。
3.根据权利要求1或2中任意一项所述的磁通门传感器,其特征在于,
上述第1电磁线圈包含卷绕于上述第1端部分的第3电磁线圈和卷绕于上述第2端部分的第4电磁线圈,上述第3电磁线圈与上述第4电磁线圈串联连接,且匝数大致相同。
4.根据权利要求1或2中任意一项所述的磁通门传感器,其特征在于,
上述第1电磁线圈卷绕于上述中央部分、上述第1以及第2端部分。
5.一种电子方位计,其特征在于,包含:
基板;
配置于上述基板上,且沿着3个轴向分别配置的第1、第2以及第3磁通门传感器,
上述第1、第2以及第3磁通门传感器的各个包含:
形成于基板上的第1配线层;
以覆盖上述第1配线层的方式形成的第1绝缘层;
磁芯,该磁芯形成于上述第1绝缘层上,具有中央部分和位于上中央部分的两端的第1以及第2端部分,该第1以及第2端部分与上述中央部分连接且具有比上述中央部分的宽度宽的宽度;
覆盖上述磁芯且形成于上述第1绝缘层上的第2绝缘层;以及
形成于上述第2绝缘层上的第2配线层,
上述第1配线层以及上述第2配线层具有多个彼此大致平行的配线,
上述第1配线层的配线以及上述第2配线层的配线的两端经由上述第1绝缘层以及上述第2绝缘层的被选择性去除的部分而被电连接,
在上述第1以及第2端部分卷绕螺旋状的第1电磁线圈,
在上述中央部分卷绕螺旋状的第2电磁线圈。
6.根据权利要求5所述的电子方位计,其特征在于,
上述第1以及第2端部分的宽度B与上述第1以及第2端部分的长度方向的长度D的比B/D值小于1。
7.根据权利要求5或6中任意一项所述的电子方位计,其特征在于,
上述第1电磁线圈包含卷绕于上述第1端部分的第3电磁线圈和卷绕于上述第2端部分的第4电磁线圈,上述第3电磁线圈与上述第4电磁线圈串联连接,且匝数大致相同。
8.根据权利要求5或6中任意一项所述的电子方位计,其特征在于,
上述第1电磁线圈卷绕于上述中央部分、上述第1以及第2端部分。
9.一种磁通门传感器,至少具备:第1配线层;以覆盖上述第1配线层的方式形成的第1绝缘层;磁芯,该磁芯形成于上述第1绝缘层上,具有检测部和位于上述检测部的两端的第1以及第2励磁部,该第1以及第2励磁部与上述检测部连接且具有比上述检测部的宽度宽的宽度;覆盖上述磁芯且形成于上述第1绝缘层上的第2绝缘层;以及形成于上述第2绝缘层上的第2配线层,
该磁通门传感器的特征在于,
上述第1配线层以及上述第2配线层具有多个彼此大致平行的配线,
上述第1配线层的配线以及上述第2配线层的配线的两端经由上述第1绝缘层以及上述第2绝缘层的被选择性去除的部分而被电连接,
在上述第1以及第2励磁部卷绕螺旋状的励磁线圈。
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