[发明专利]预记录光学记录介质

说明书

技术领域

本发明涉及一种包括金属反射膜的只读光学记录介质。

背景技术

对于作为光学记录介质的光盘，尤其是只读ROM(只读存储器)盘，可以通过来自单个压模的塑料注射成型(injection molding)，而在短时间中以低成本生产大量的复制基板。因此，将光学记录介质广泛地用作封装介质。

附带地，为了防止著作权侵害，正在考虑一种添加区分每张盘的标识信息的方法。作为添加标识信息的方法，例如，提出了一种将子数据记录到金属反射膜上的方法(例如，参见专利文献1)。

在专利文献1的光盘中，将Ag(银)合金用作该金属反射膜。

由Ag合金形成的金属反射膜，不仅可以使用在记录子数据的专利文献1的只读光学记录介质中，而且可以使用在一般的只读光学记录介质中。

然而，由于银合金作为只读光学记录介质的材料有些昂贵，所以成本增加。

就此，正在考虑使用Al(铝)来代替Ag。

实际上，将Al或Al合金用作一种光学记录介质中的金属反射膜，该光学记录介质使用具有650nm和780nm波长的光来记录/再现信息(例如，参见专利文献2)。

专利文献1：日本专利申请特开第2007-335003号

专利文献2：日本专利申请特开第2003-317318号

发明内容

本发明要解决的问题

然而，对于构成光学记录介质的金属反射膜，使用如现有技术中的光学记录介质中使用的Al或Al合金导致问题，前一种光学记录介质使用具有405nm波长的光来记录/再现信息的，后一种光学记录介质使用具有650nm和780nm波长的光来记录/再现信息。

具体地，相对于具有405nm波长的光的反射率随时间改变而被降低。

而且，当将子数据记录到金属反射膜上并且从该金属反射膜再现时，再现信号输出由于时间改变而变化。

为了解决上述问题，在本发明中，提供了一种耐久的只读光学记录介质，其在由于时间改变而导致的金属反射膜的特性上具有较小变化。

用于解决问题的手段

根据本发明，提供了一种只读光学记录介质，包括：基板；信息记录表面，通过对在该基板上形成的凹坑(pit)和岸面(land)进行组合来构造，并且在其上记录信息；以及金属反射膜，其提供为与该信息记录表面接触，并且由Al_100-x-zX_xZ_z表示，其中，x和z每一个表示原子％，X由至少包括Ti的元素构成，Z由至少包括Fe的元素构成，x是1.0到3.0，并且z是0.05到1.0。

利用根据本发明的只读光学记录介质的结构，通过Al_100-x-zX_xZ_z表示该金属反射膜，其中，x和z每一个表示原子％，至少包括Ti的X成分的含量是1.0到3.0，并且至少包括Fe的Z成分的含量是0.05到1.0。

相应地，变得可能抑制由于时间改变而导致的金属反射膜的特性(例如，相对于具有405nm波长的光的反射率)的变化。

本发明的效果

根据本发明，变得可能抑制由于时间改变而导致的金属反射膜的特性的变化。

另外，根据本发明，该金属反射膜可以由便宜的材料形成。

因此，根据本发明，可以以低成本来实现一种耐久的只读光学记录介质，该记录介质在由于时间改变而导致的金属反射膜的特性上具有较小变化。

附图说明

图1是根据本发明第一实施例的只读光学记录介质的示意结构图(剖面图)。

图2是Ti-Al基相图。

图3是用于说明根据本发明第二实施例、用于只读光学记录介质的制造方法的实施例的图。

图4是示出根据本发明第二实施例、用于关于只读光学记录介质使用的子数据的记录设备的实施例的结构图。

图5是根据本发明第二实施例、用于将子数据记录到只读光学记录介质上的说明图。

图6是示出根据本发明第二实施例、用于关于只读光学记录介质使用的子数据的再现设备的实施例的结构图。

图7是根据本发明第二实施例、用于从只读光学记录介质中再现子数据的说明图。

图8的A和B是示出根据示例1和2、只读光学记录介质的加速测试之前和之后的反射率的改变的图。

图9的A和B是示出根据比较示例1和2、只读光学记录介质的加速测试之前和之后的反射率的改变的图。