[发明专利]涂料样品特征的测量方法和仪器

权利要求书

1.一种测量涂料样品的体积固体的仪器，包括：

传感器装置，设置成发射信号和检测从基底上的涂料样品的表面反射的信号，生成数据组，该数据组包括表明湿润和干燥时相同涂料样品的表面位置和至少一个参考面的位置的数据，传感器装置定位成离开涂料样品，以便发射和检测信号；

处理装置，用于处理传感器装置产生的数据组，来确定涂料样品的体积固体。

2.根据权利要求1所述的仪器，其中，至少湿润和干燥时的涂料样品表面的位置通过传感器装置和涂料样品之间的相对运动来测量，该相对运动通过横跨的平台有效地进行，以扫描涂料样品。

3.根据权利要求2所述的仪器，其中，所述横跨的平台在垂直于其运行的方向上传递给涂料样品的运动不大于10微米，这样的运动一般是振动。

4.根据权利要求2或者3所述的仪器，其中，该仪器适于扫描湿涂料样品超过一次，并扫描干涂料样品超过一次，以便由传感器装置产生多个数据组，以测量涂料样品的涂料体积固体。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的仪器，其中，所述参考面是其上施加涂料样品的基底表面。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的仪器，其中，所述基底的扫描和涂料表面的扫描沿一条线进行，湿涂料样品的扫描线和干涂料样品的扫描线在同一位置。

7.根据权利要求2至6中任一项所述的仪器，其中，扫描湿涂料样品和干涂料样品时使用相同的参考面，扫描湿涂料样品和扫描干涂料样品时扫描速度大致相同。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的仪器，其中，进一步包括：

将涂料样品散布在所述基底的表面上的散布装置，所述传感器装置被设置成在散布后检测从涂料样品表面反射的信号，以产生所述数据组。

9.根据权利要求8所述的仪器，其中，所述散布装置是刮刀和绕线压延杆中的一个，所述散布装置用于减少湿的涂料样品的厚度的平均值到10微米和350微米之间。

10.根据权利要求8所述的仪器，其中，所述散布装置用于减少湿的涂料样品的厚度的平均值到20微米和80微米之间。

11.根据权利要求8-10中任一项所述的仪器，其中，所述散布装置散布的湿的涂料样品的宽度为1毫米和30毫米之间。

12.根据权利要求1-11中任一项所述的仪器，其中，还包括干燥装置，在湿涂料样品表面位置的测量后，该干燥装置进行湿涂料样品的干燥；其中，所述干燥装置受控加热该基底和涂料样品到表面温度峰值，该表面温度峰值的精度为相对于希望的参考温度正负4摄氏度。

13.根据权利要求12所述的仪器，其中，还包括冷却装置，用于在干燥到选定的温度后冷却基底，该选定的温度在20摄氏度至120摄氏度的范围内，并有选择地在测量干涂料样品表面位置时，补偿干涂料样品的热膨胀。

14.根据权利要求1-13中任一项所述的仪器，其中，所述传感器装置是激光位移传感器，用于测量到至少涂料样品的表面和参考面之一的距离。

15.根据权利要求1-14中任一项所述的仪器，其中，形成各个数据组的数据包括表明至少在湿润和干燥时的涂料样品表面的平均位置的数据。

16.根据权利要求1-14中任一项所述的仪器，其中，形成各个数据组的数据包括表明在湿润和干燥时的涂料样品平均横截面积的数据。

17.根据权利要求1-14中任一项所述的仪器，其中，形成各个数据组的数据包括表明在湿润和干燥时的涂料样品的平均体积的数据。

18.根据前述任一项权利要求所述的仪器，其中，还包括处理装置，带有软件的计算机由对应于参考面的位置的数据组得到数值，以确定涂料样品的平均厚度或涂料样品的横截面面积之一，继而确定涂料样品的涂料体积固体。

19.根据权利要求1-18中任一项所述的仪器，其中，该基底从以下的组中选择：带涂层的载玻片和平坦地的金属带。

20.根据权利要求1-26中任一项所述的仪器，其中，沿扫描线的基底的一个表面偏离平面不超过40微米。