[发明专利]制造碳化硅衬底的方法和碳化硅衬底无效

专利信息
申请号: 201080023692.1 申请日: 2010-09-29
公开(公告)号: CN102449732A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 西口太郎;增田健良;佐佐木信;原田真;并川靖生;藤原伸介 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/28;H01L21/336;H01L29/12;H01L29/78
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 韩峰;孙志湧
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 制造 碳化硅 衬底 方法
【权利要求书】:

1.一种用于制造碳化硅衬底(1)的方法,包括以下各步骤:

准备由碳化硅制成的基底衬底(10)和由单晶碳化硅制成的SiC衬底(20);

形成Si膜(30),所述Si膜(30)由硅制成,并且所述Si膜(30)在所述基底衬底(10)的主表面上且与所述主表面接触;

通过将所述SiC衬底(20)放置在所述Si膜(30)上并且使所述SiC衬底(20)与所述Si膜(30)接触来制造堆叠衬底;以及

通过加热所述堆叠衬底以至少使所述Si膜(30)中的与所述基底衬底(10)接触的区域以及与所述SiC衬底(20)接触的区域转换成碳化硅,来使所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接。

2.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,还包括如下步骤:

对于所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)的、将在所述的制造所述堆叠衬底的步骤中被设置为在中间夹着所述Si膜(30)的情况下彼此面对面的主表面中的至少一个主表面进行平滑化,在所述的制造所述堆叠衬底的步骤之前执行所述的平滑化的步骤。

3.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,

在所述的形成所述Si膜(30)的步骤中形成的所述Si膜(30)具有不小于10nm且不大于1μm的厚度。

4.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,

在所述的使所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接的步骤中,在包括含有碳的气体的气氛中加热所述堆叠衬底。

5.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,

在所述的制造所述堆叠衬底的步骤中,当以平面视角观察时,并排布置多个所述SiC衬底(20)。

6.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,

在所述堆叠衬底中,所述SiC衬底(20)的相对于所述基底衬底(10)相反的主表面(20A)具有相对于{0001}面不小于50°且不大于65°的偏离角。

7.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中:

所述基底衬底(10)由单晶碳化硅制成,并且

在所述的制造所述堆叠衬底的步骤中,制造所述堆叠衬底以使得所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)的将被设置为在中间夹着所述Si膜(30)的情况下彼此面对面的主表面具有相同的面取向。

8.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,

在所述的将所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接的步骤之前不对所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)的主表面进行抛光的情况下,来执行使所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接的步骤,其中所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)的所述主表面将在所述的使所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接的步骤中被设置成彼此面对面。

9.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,还包括以下步骤:

对所述SiC衬底(20)的主表面(20A)进行抛光,所述主表面(20A)对应于所述SiC衬底(20)的相对于所述基底衬底(10)相反的主表面(20A)。

10.一种碳化硅衬底(1),包括:

基底层(10),所述基底层(10)由碳化硅制成;

中间层(40),所述中间层(40)形成在所述基底层(10)上并且与所述基底层(10)接触;以及

SiC层(20),所述SiC层(20)由单晶碳化硅制成,并且所述SiC层(20)设置在所述中间层(40)上且与所述中间层(40)接触,

所述中间层(40)在该中间层(40)与所述基底层(10)相邻的区域以及该中间层(40)与所述SiC层(20)相邻的区域中包含碳化硅,并且所述中间层(40)使所述基底层(10)和所述SiC层(20)彼此连接。

11.根据权利要求10所述的碳化硅衬底(1),其中,

当以平面视角观察时,并排布置多个所述SiC层(20)。

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