[发明专利]制造碳化硅衬底的方法和碳化硅衬底无效
申请号: | 201080023692.1 | 申请日: | 2010-09-29 |
公开(公告)号: | CN102449732A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 西口太郎;增田健良;佐佐木信;原田真;并川靖生;藤原伸介 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/28;H01L21/336;H01L29/12;H01L29/78 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 韩峰;孙志湧 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制造 碳化硅 衬底 方法 | ||
1.一种用于制造碳化硅衬底(1)的方法,包括以下各步骤:
准备由碳化硅制成的基底衬底(10)和由单晶碳化硅制成的SiC衬底(20);
形成Si膜(30),所述Si膜(30)由硅制成,并且所述Si膜(30)在所述基底衬底(10)的主表面上且与所述主表面接触;
通过将所述SiC衬底(20)放置在所述Si膜(30)上并且使所述SiC衬底(20)与所述Si膜(30)接触来制造堆叠衬底;以及
通过加热所述堆叠衬底以至少使所述Si膜(30)中的与所述基底衬底(10)接触的区域以及与所述SiC衬底(20)接触的区域转换成碳化硅,来使所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接。
2.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,还包括如下步骤:
对于所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)的、将在所述的制造所述堆叠衬底的步骤中被设置为在中间夹着所述Si膜(30)的情况下彼此面对面的主表面中的至少一个主表面进行平滑化,在所述的制造所述堆叠衬底的步骤之前执行所述的平滑化的步骤。
3.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,
在所述的形成所述Si膜(30)的步骤中形成的所述Si膜(30)具有不小于10nm且不大于1μm的厚度。
4.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,
在所述的使所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接的步骤中,在包括含有碳的气体的气氛中加热所述堆叠衬底。
5.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,
在所述的制造所述堆叠衬底的步骤中,当以平面视角观察时,并排布置多个所述SiC衬底(20)。
6.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,
在所述堆叠衬底中,所述SiC衬底(20)的相对于所述基底衬底(10)相反的主表面(20A)具有相对于{0001}面不小于50°且不大于65°的偏离角。
7.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中:
所述基底衬底(10)由单晶碳化硅制成,并且
在所述的制造所述堆叠衬底的步骤中,制造所述堆叠衬底以使得所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)的将被设置为在中间夹着所述Si膜(30)的情况下彼此面对面的主表面具有相同的面取向。
8.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,其中,
在所述的将所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接的步骤之前不对所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)的主表面进行抛光的情况下,来执行使所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接的步骤,其中所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)的所述主表面将在所述的使所述基底衬底(10)和所述SiC衬底(20)彼此连接的步骤中被设置成彼此面对面。
9.根据权利要求1所述的制造碳化硅衬底(1)的方法,还包括以下步骤:
对所述SiC衬底(20)的主表面(20A)进行抛光,所述主表面(20A)对应于所述SiC衬底(20)的相对于所述基底衬底(10)相反的主表面(20A)。
10.一种碳化硅衬底(1),包括:
基底层(10),所述基底层(10)由碳化硅制成;
中间层(40),所述中间层(40)形成在所述基底层(10)上并且与所述基底层(10)接触;以及
SiC层(20),所述SiC层(20)由单晶碳化硅制成,并且所述SiC层(20)设置在所述中间层(40)上且与所述中间层(40)接触,
所述中间层(40)在该中间层(40)与所述基底层(10)相邻的区域以及该中间层(40)与所述SiC层(20)相邻的区域中包含碳化硅,并且所述中间层(40)使所述基底层(10)和所述SiC层(20)彼此连接。
11.根据权利要求10所述的碳化硅衬底(1),其中,
当以平面视角观察时,并排布置多个所述SiC层(20)。
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