[发明专利]波前成像传感器

说明书

相关申请的交叉引用

本申请是非临时申请，并且要求于2009年6月3日提交的、题为“Functionalized CMOS Sensor Chips for Wavefront and DarkfieldMicroscopy”的第61/183,868号美国临时专利申请以及于2009年9月8日提交的、题为“Wavefront Imaging Sensor”的第61/240,556号临时专利申请的优先权。这些临时申请通过引用的方式全部并入本文以用于所有目的。

该非临时申请涉及下面的共同未决的且共同转让的专利申请，其通过引用的方式全部并入本文以用于所有目的：

●于2005年5月9日提交的、题为“Optofluidic Microscope Device”的第11/125,718号美国专利申请。

●于2007年3月14日提交的、题为“Optofluidic Microscope Device”的第11/686,095号美国专利申请。

●于2007年5月2日提交的、题为“On-chip Microscope/Beam Profilerbased on Differential Interference Contrast and/or Surface Plasmon AssistedInterference”的第11/743,581号美国专利申请。

●于2009年3月4日提交的、题为“Methods of Using OptofluidicMicroscope Devices”的第12/398,098号美国专利申请。

●于2009年3月4日提交的、题为“Optofluidic Microscope Device withPhotosensor Array”的第12/398,050号美国专利申请。

●于2009年12月15日提交的、题为“Techniques for ImprovingOptofluidic Microscope Devices”的第12/638,518号美国专利申请。

●于2009年5月4日提交的、题为“Quantitative Differential InterferenceContrast(DIC)Microscopy and Photography based on Wavefront Sensors”的第12/435,165号美国专利申请。

●于2010年1月21日提交的、题为“Quantitative DifferentialInterference Contrast(DIC)Microscopy and its Computed Depth SectioningAbility”的第12/690,952号美国专利申请。

下面的非临时专利申请是在同一天提交的并且因此通过引用的方式全部并入本文以用于所有目的：于2010年6月2日提交的、题为“SurfaceWave Enabled Darkfield Aperture”的第12/792,059号(代理人案号：020859-004633US-CIP)美国专利申请。

背景技术

本发明的实施方式大体上涉及在诸如显微镜和摄影等应用中使用的相位感测设备。更具体地说，某些实施方式涉及一种波前成像传感器(WIS)，其被配置以高菲涅尔数模式测量光场的相位变化和/或幅度变化。

光场包括两组主要的特征，即，幅度/强度和波阵面变化。目前，商业光学传感器被设计为像我们的视网膜一样操作，并且仅响应于光场幅度/强度变化。