[发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法无效
申请号: | 201080025626.8 | 申请日: | 2010-05-27 |
公开(公告)号: | CN102822665A | 公开(公告)日: | 2012-12-12 |
发明(设计)人: | 土井恭二;林弘能;星岛一辉;浅野有美 | 申请(专利权)人: | 三井造船株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人: | 杨颖;张一军 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 检测 装置 方法 | ||
1.一种荧光检测装置,接收位于测量位置的测量对象物受到激光照射后所发出的荧光、且对获得自该荧光的荧光信号进行信号处理,其特征在于,包括:
激光光源部,发射用以照射测量对象物的激光;
受光部,输出测量对象物被激光照射后所发出的荧光的荧光信号;
光源控制部,生成具有规定频率的调制信号,以便对发射自所述激光光源部的激光强度进行时间调制;
处理部,根据通过将时间调制的激光照射到测量对象物而由所述受光部输出的荧光信号,利用所述调制信号计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间;
所述受光部包括使荧光在所述测量对象物的测量位置和荧光的受光面之间发生聚集的透镜,还包括使通过所述透镜的所述荧光形成具有均匀光强度分布的光束的装置、以及将通过该装置而形成的荧光的所述光束分割给多个区域而使多个区域分别接收这些被分割的光束的受光元件。
2.如权利要求1所述的荧光检测装置,其特征在于,所述受光部包括信号加法器,以便对分割到所述多个区域而得到的每个部分荧光信号进行加法处理后作为一个荧光信号来输出。
3.如权利要求2所述的荧光检测装置,其特征在于,在所述受光部,所述多个区域的每个区域均设置有实施将所述部分荧光信号是否提供给所述信号加法器的开关电路。
4.如权利要求3所述的荧光检测装置,其特征在于,所述处理部除了计算所述荧光弛豫时间以外,根据所述荧光信号计算荧光强度,当该荧光强度超过规定阈值时,通过所述开关电路限制供给到所述信号加法器的所述部分荧光信号的供给数量。
5.如权利要求3或4所述的荧光检测装置,其特征在于,在所述受光部设置有增益调节器,以便在所述部分荧光信号被供给到所述开关电路之前,对所述多个区域的每一个区域的所述部分荧光信号进行增益调节,以使所述部分荧光信号的增益达到一致。
6.如权利要求1~5中任一项所述的荧光检测装置,其特征在于,所述受光部包括位于所述透镜和所述受光面之间的漫射板,使得所述荧光通过所述透镜在所述漫射板上成像。
7.如权利要求1~5中任一项所述的荧光检测装置,其特征在于,所述受光部包括位于所述透镜和所述受光面之间、使入射的荧光在壁面上发生反射且平行于所述透镜的光轴而设置的筒状光波导管。
8.如权利要求1~5中任一项所述的荧光检测装置,其特征在于,所述受光部的所述透镜使聚集的荧光呈大致平行的光,由此形成具有均匀光强度分布的荧光。
9.一种荧光检测方法,接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光、且对获得自该荧光的荧光信号进行信号处理,其特征在于,包括下述步骤:
以具有规定频率的调制信号对用来照射测量对象物的激光强度进行时间调制后将其照射在测量对象物上的步骤;
将测量对象物受到激光照射后所发出的荧光形成为光强度呈均匀分布的光束,并将所述荧光的光束分割给多个区域而使多个区域接收这些被分割的光束,由此生成多个部分荧光信号的步骤;
至少对所述多个部分荧光信号中的一部分进行加法处理,以生成一个荧光信号的步骤;
根据生成的所述荧光信号,利用所述调制信号计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间的步骤。
10.如权利要求9所述的荧光检测方法,其特征在于,当根据荧光信号所计算出的测量对象物所发出的荧光的荧光强度超过规定阈值时,限制所述部分荧光信号的加法计算数量。
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