[发明专利]具有形成在有纹理的表面上的接触部的半导体发光器件有效
申请号: | 201080027275.4 | 申请日: | 2010-05-27 |
公开(公告)号: | CN102804410A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | J.E.埃普勒 | 申请(专利权)人: | 飞利浦拉米尔德斯照明设备有限责任公司;皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/38 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 初媛媛;刘鹏 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 形成 纹理 表面上 接触 半导体 发光 器件 | ||
1.一种器件,包括:
半导体结构,所述半导体结构包括:
布置在n型区域与p型区域之间的发光层;
n接触区域和p接触区域,其中所述n接触区域的横截面包括其中移除了部分所述发光层和所述p型区域以暴露所述n型区域的多个第一区域,其中所述多个第一区域由其中所述发光层和所述p型区域仍存在于所述器件中的多个第二区域分隔;以及
布置在所述n接触区域与所述p接触区域之间的沟槽;
在所述p接触区域中的半导体结构上形成的第一金属接触部;以及
在所述n接触区域中的半导体结构上形成的第二金属接触部;
其中,所述第二金属接触部与所述n接触区域中的第二区域中的至少一个电接触。
2.根据权利要求1所述的器件,其中所述沟槽将所述第一金属接触部与所述第二金属接触部电隔离。
3.根据权利要求1所述的器件,其中所述多个第一区域包括在所述半导体结构中形成的孔,其中所述孔的宽度在1微米和5微米之间。
4.根据权利要求3所述的器件,其中最近相邻孔的中心相距4微米和8微米之间。
5.根据权利要求1所述的器件,其中所述多个第二区域包括半导体材料的柱。
6.根据权利要求5所述的器件,其中所述柱的宽度在1微米和5微米之间。
7.根据权利要求1所述的器件,其中所述第二金属接触部的横截面包括由谷分隔的多个小丘。
8.根据权利要求1所述的器件,还包括布置在所述沟槽的侧壁上的绝缘层。
9.一种方法,包括:
对半导体结构进行蚀刻,所述半导体结构包括布置在n型区域与p型区域之间的发光层,以形成;
n接触区域,其中所述n接触区域的横截面包括其中移除了部分所述发光层和p型区域以暴露所述n型区域的多个第一区域,其中所述多个第一区域由其中所述发光层和p型区域仍存在于所述器件中的多个第二区域分隔;以及
布置在所述n接触区域与p接触区域之间的沟槽;
在所述p接触区域上形成第一金属接触部;以及
在所述n接触区域上形成第二金属接触部;
其中所述第二金属接触部与所述n接触区域的至少一个第二区域电接触。
10.根据权利要求9所述的方法,还包括:在所述第一金属接触部上形成多个金属凸起。
11.根据权利要求10所述的方法,还包括:将所述半导体结构接合至底座,其中接合包括使所述多个金属凸起塌陷,从而使塌陷的凸起将半导体器件电连接且机械连接至所述底座,并且其中所述金属凸起在接合期间仍处于固相。
12.根据权利要求10所述的方法,其中所述多个金属凸起包括具有小于150 GPa的杨氏模量的金属。
13.根据权利要求10所述的方法,其中:
所述多个金属凸起中的每一个具有1微米和5微米之间的宽度以及1微米和5微米之间的高度;以及
最近相邻凸起相距4微米和8微米之间。
14.根据权利要求9所述的方法,还包括:
利用绝缘层来涂覆所述器件;以及
从所述n接触区域和所述p接触区域移除所述绝缘层,使得所述绝缘层仍存在于所述沟槽的侧壁上。
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