[发明专利]积分电路及光检测装置有效
申请号: | 201080027820.X | 申请日: | 2010-06-10 |
公开(公告)号: | CN102460961A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 船越晴宽;伊藤真也 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H03F3/08 | 分类号: | H03F3/08;G01J1/44;G01J1/46 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本,*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 积分电路 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及存储输入的电荷而输出对应于存储电荷量的电压值的积分电路、及包含该积分电路与光电二极管的光检测装置。
背景技术
作为光检测装置,已知有包含光电二极管与积分电路(例如参照专利文献1)。该积分电路包含具有第1输入端子、第2输入端子及输出端子的放大电路,与设置于该放大电路的第1输入端子与输出端子之间且相互并联连接的电容元件及开关。该光检测装置通过闭合积分电路的开关来使积分电路的电容元件放电,使从积分电路输出的电压值初始化。当积分电路的开关开启时,由光电二极管所产生的电荷存储于积分电路的电容元件,而从积分电路输出对应于该存储电荷量的电压值。另外,光检测装置被构成为将多个光电二极管排列成1维状或2维状,由此可获取1维状或2维状的光像。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开平06-105067号公报
发明内容
发明所要解决的问题
光检测装置被要求增多所排列的光电二极管的个数,且,伴随于此也被要求高速化及低耗电量化。但,当想要减少光检测装置所含有的积分电路的耗电量时,由于放大电路的驱动能力降低,故闭合积分电路的开关,会导致将积分电路的输出电压值初始化所需的时间变长。即,以往难以同时实现低耗电量化与高速化。
本发明为解决上述问题点而完成,其目的在于提供一种可实现低耗电量化及高速化两者的积分电路及光检测装置。
解决问题的技术手段
本发明的积分电路的特征为包含:(1)具有第1输入端子、第2输入端子及输出端子的放大电路;(2)设置于放大电路的第1输入端子与输出端子之间的电容元件;(3)相对于电容元件,并联设置于放大电路的第1输入端子与输出端子之间的第1开关;及(4)设置于被输入基准电位的基准电位输入端子与放大电路的第1输入端子侧的电容元件的端子之间,且对电容元件的端子施加基准电位的第2开关。另,在放大电路的第1输入端子及第2输入端子中,一者为反相输入端子,另一者为非反相输入端子。
本发明的光检测装置的特征为包含:(1)上述的本发明的积分电路;及(2)产生对应于入射光量的量的电荷,并使该产生的电荷输入至积分电路的放大电路的第1输入端子的光电二极管。
在本发明中,当在积分电路中第1开关闭合使电容元件放电而将积分电路的输出电压值初始化时,第2开关也闭合,而对电容元件的端子施加基准电位。由此,使积分电路的电容元件快速放电。
发明效果
根据本发明,可实现低耗电量化及高速化两者。
附图说明
图1为显示本实施方式所涉及的光检测装置1的结构的图。
图2为说明本实施方式所涉及的光检测装置1的动作的图。
图3为说明本实施方式所涉及的光检测装置1的动作的图。
符号说明
1 光检测装置
10 积分电路
20 放大电路
SW1 第1开关
SW2 第2开关
C 电容元件
PD 光电二极管
50 控制部
具体实施方式
以下,参照附图详细说明用于实施本发明的形态。另,在图式的说明中,对相同的要素附注以相同的符号,且省略重复的说明。
图1是显示本实施方式的光检测装置1的结构。该图所示的光检测装置1具备光电二极管PD及积分电路10。积分电路10包含放大电路20、电容元件C、第1开关SW1及第2开关SW2。
放大电路20包含反相输入端子、非反相输入端子及输出端子。电容元件C设置于放大电路20的反相输入端子与输出端子之间。第1开关SW1相对于电容元件C并联设置于放大电路20的反相输入端子与输出端子之间,并根据第1重置信号Reset1的电平进行开闭动作。放大电路20的非反相输入端子连接于接地电位。放大电路20的非反相输入端子如果是固定的电位,则不限于接地电位,例如也可为0.1V等。
第2开关SW2设置于被输入基准电位Vref的基准电位输入端子与放大电路20的反相输入端子侧的电容元件C的端子之间,且可根据第2重置信号Reset2的电平进行开闭动作,并对电容元件C的端子施加基准电位Vref。该基准电位Vref也可为接地电位。
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