[发明专利]放大电路、积分电路及光检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及存储所输入电荷并输出对应于存储电荷量的电压值的积分电路、包含该积分电路与光电二极管的光检测装置、及包含于该积分电路中的放大电路。

背景技术

作为光检测装置，已知有包含光电二极管与积分电路(例如参照专利文献1)。该积分电路具备：放大电路，其具有第1输入端子、第2输入端子与输出端子；电容元件及开关，其设于该放大电路的第1输入端子与输出端子间且互相并联连接。该光检测装置中，通过积分电路的开关闭合，使积分电路的电容元件放电，而使从积分电路输出的电压值初始化。积分电路的开关断开时，在光电二极管中产生的电荷会存储于积分电路的电容元件中，并从积分电路输出对应于该存储电荷量的电压值。另外，将光检测装置设为多个光电二极管排列成1维或2维状的构造，可获得1维或2维状的光像。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平06-105067号公报

发明内容

发明所要解决的问题

光检测装置被要求增加所排列的光电二极管的个数，且伴随于此也要求高速化及低耗电化。但，如果要降低光检测装置中所含的积分电路的耗电量，则放大电路的驱动能力会下降，因此通过积分电路的开关闭合而使积分电路的输出电压值初始化所需要的时间变长。即。以往难以兼顾低耗电化与高速化。

本发明为消除上述问题而完成，其目的在于提供一种可兼顾低耗电化及高速化的放大电路、积分电路及光检测装置。

解决问题的技术手段

本发明的放大电路的特征在于：其具有第1输入端子、第2输入端子及输出端子，且具备：(1)驱动部，其由PMOS晶体管及NMOS晶体管各自的漏极端子互相连接而成，且该连接点与输出端子连接；及(2)第1开关，其设于被输入第1基准电位的第1基准电位输入端子与PMOS晶体管的栅极端子之间，对PMOS晶体管的栅极端子施加第1基准电位从而使PMOS晶体管成为关闭(OFF)状态。此外，放大电路的第1输入端子及第2输入端子的其中一方为反相输入端子，另一方为非反相输入端子。

本发明的积分电路的特征在于具备：(1)上述本发明的放大电路；(2)设于放大电路的第1输入端子与输出端子间的电容元件；及(3)在放大电路的第1输入端子与输出端子间相对于电容元件并联而设的第2开关。另，优选为上述积分电路进而具备第3开关，其设于被输入第2基准电位的第2基准电位输入端子与电容元件的一端之间，对电容元件的一端施加第2基准电位。

本发明的光检测装置的特征在于具备：(1)上述本发明的积分电路；及(2)产生对应于入射光量的量的电荷，且将该产生的电荷输入积分电路的放大电路的第1输入端子的光电二极管。

根据本发明，在积分电路中当第2开关闭合、电容元件放电而使积分电路的输出电压值初始化时，包含于放大电路中的第1开关也闭合，对构成放大电路的驱动部的PMOS晶体管的栅极端子施加第1基准电位，使该PMOS晶体管成为关闭(OFF)状态。另，第3开关也闭合，对放大电路的第1输入端子施加第2基准电位。由此，使积分电路的电容元件快速放电。

发明的效果

根据本发明，可兼顾低耗电化及高速化。

附图说明

图1为显示第1实施方式所涉及的光检测装置1的构成的图。

图2为说明第1实施方式所涉及的光检测装置1的动作的图。

图3为显示第2实施方式所涉及的光检测装置2的构成的图。

图4为说明第2实施方式所涉及的光检测装置2的动作的图。

图5为显示第2实施方式的变形例所涉及的光检测装置2A的结构的图。

符号说明

1、2、2A      光检测装置

11、12        积分电路

20            放大电路

SW₁           第1开关

SW₂           第2开关

SW₃           第3开关

C₁、C₂        电容元件

PD            光电二极管

T₁、T₁₀～T₁₅  PMOS晶体管