[发明专利]用于测量系统的校准方法有效

专利信息
申请号: 201080029141.6 申请日: 2010-06-24
公开(公告)号: CN102470529A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 伯恩哈德·麦茨勒;贝恩德·瓦尔泽;贝亚特·埃比舍尔 申请(专利权)人: 莱卡地球系统公开股份有限公司
主分类号: B25J9/16 分类号: B25J9/16
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 党晓林;王小东
地址: 瑞士海*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 系统 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测量系统(M)的校准方法(KV),其中所述测量系统(M)被构造用于确定在工业作业(IP)范围内要按规定定位的物体(12,22,32)的定位,并且所述测量系统(M)至少包括

·第一拍摄装置(1,1a),所述第一拍摄装置具有

□第一摄像机(2,2a),其用于拍摄在第一视界(8,8a)内的第一图像,和

□第一角度测量装置(4,4a),其用于高精度地确定所述第一摄像机(2,2a)的第一角度取向,

其中,在所述工业作业(IP)内按照已知的节拍(Ta)重复:

·在定位阶段(Ph)内按规定定位所述物体(12,22,32),并且通过所述测量系统(M)执行关于所述物体(12,22,32)的定位的测量,

·在定位间歇期(Pa)内进行其它作业步骤,尤其是加工步骤、处理步骤、检验步骤和/或输送步骤,

其中,所述节拍(Ta)控制所述工业作业(IP)的进展,

其中,在所述校准方法(KV)范围内执行以下步骤:

·执行一个校准测量循环(MZ)的多个校准测量(KM),包括校准测量数据(KD)的获得,其中所述校准测量循环(MZ)具有至少这样的数量和类型的校准测量(KM),即,能够根据所获得的校准测量数据(KD)确定校准参数(KP),所述校准参数至少涉及所述第一拍摄装置(1,1a)在一个规定坐标系中的位置(P)和取向,和

·根据所述校准测量数据(KD)确定出校准参数(KP),

其特征在于,

·所述校准测量循环(MZ)被分为几个、尤其是许多个子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi),给每个子循环分别分配所述校准测量(KM)中的一个或多个,和

·在遵守所述节拍(Ta)的情况下,这些子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi)分别在其中一个所述定位间歇期(Pa)内进行,从而所述校准测量循环(MZ)被分散到几个、尤其许多个定位间歇期(Pa)中。

2.根据权利要求1所述的校准方法(KV),其特征在于,

·在遵守所述节拍(Ta)的情况下,所述子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi)中的至少几个分别在其中一个所述定位间歇期(Pa)内连续地重复执行,

·在考虑到在所述子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi)重复时所获得的校准测量数据(KD)的情况下,尤其在其中一个所述子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi)的每次重复后,连续地、分别旨在更新地确定所述校准参数(KP)的至少一部分、尤其是所有校准参数。

3.根据权利要求2所述的校准方法(KV),其特征在于,重复地执行所述校准测量循环(MZ)的所有子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi),尤其按照规定顺序依次执行。

4.根据权利要求2或3所述的校准方法(KV),其特征在于,在目前已经重复过的子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi)的范围中获得的、作为旧数据的校准测量数据(KD)

·在旨在更新地确定所述校准参数(KP)时,至少部分未予以考虑和/或被赋予更低的权重,

·尤其是至少部分地被代之以在重复所述子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi)时所获得的校准测量数据(KD)。

5.根据权利要求2至4之一所述的校准方法(KV),其特征在于,把在目前已经重复过的子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi)的范围中获得的、作为旧数据的那些校准测量数据,彻底替换为在重复所述子循环(TZ1,TZ2,TZ3,TZ4,TZ5,TZ6,TZi)时所获得的校准测量数据(KD),用于旨在更新地确定所述校准参数(KP),从而所述校准测量循环(MZ)在时间上连续地移动。

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