[发明专利]电磁场测量设备，用于该测量设备的电磁场测量方法以及存储电磁场测量控制程序的非瞬时性计算机可读介质

权利要求书

1.一种电磁场测量设备，包括：

激光源，所述激光源发射具有预定频率的激光束作为载波信号光；

光调制装置，所述光调制装置用于通过在预定局部振荡频率调制所述载波信号光而产生调制光，并且发射所述调制光；

特定的光学部件；

电磁场传感器，所述电磁场传感器通过将经过所述光学部件入射的所述调制光暴露于由待测对象引起的射频频带的电磁场并且由此调制所述调制光而产生信号光，并发射所述信号光；

光接收器，所述光接收器经过所述光学部件从所述电磁场传感器接收所述信号光并输出具有与所述电磁场相同的射频频带的电信号；

频谱分析器，所述频谱分析器测量所述电信号的频谱；以及

振幅水平比控制装置，所述振幅水平比控制装置用于基于由所述频谱分析器测量的所述电信号的频谱，将包含在入射到所述光接收器上的所述信号光中的载波和边带之间的振幅水平比控制为固定值。

2.根据权利要求1所述的电磁场测量设备，其中所述振幅比控制装置构造为调整所述载波的振幅水平。

3.根据权利要求2所述的电磁场测量设备，其中

所述光学部件包括偏振面调整装置，所述偏振面调整装置用于将从所述光调制装置发射的所述调制光的偏振面调整为预定方向，并且

所述振幅水平比控制装置包括：

计算控制单元，所述计算控制单元基于由所述频谱分析器测量的所述电信号的频谱输出振幅水平控制信号；以及

检偏器，所述检偏器基于所述振幅水平控制信号，通过调整所述检偏器相对于所述载波的偏振面的角度来调整所述载波的振幅水平。

4.根据权利要求2所述的电磁场测量设备，其中所述振幅水平比控制装置包括：

光耦合器，所述光耦合器通过使入射到所述电磁场传感器上的所述调制光分支而产生分支调制光，并发射所述分支调制光，并且使从所述电磁场传感器发射的信号光从所述光耦合器中通过；

计算控制单元，所述计算控制单元基于由所述频谱分析器测量的所述电信号的频谱输出振幅水平控制信号；

电压发生器，所述电压发生器基于所述振幅水平控制信号产生控制电压；以及

压电元件，所述压电元件通过基于所述控制电压调整从所述光耦合器发射的所述分支调制光的相位来产生振幅水平调整调制光，并且将所述振幅水平调整调制光发射到所述光耦合器，并且由此将所述振幅水平调整调制光与所述信号光组合。

5.根据权利要求2所述的电磁场测量设备，其中所述振幅水平比控制装置包括：

第一光耦合器，所述第一光耦合器通过使经过所述光学部件入射的所述调制光分支而产生分支调制光，并发射所述分支调制光；

计算控制单元，所述计算控制单元基于由所述频谱分析器测量的所述电信号的频谱输出振幅水平控制信号；

电压发生器，所述电压发生器基于所述振幅水平控制信号产生控制电压；

光调制元件，所述光调制元件通过基于所述控制电压调整从所述第一光耦合器发射的所述分支调制光的相位来产生振幅水平调整调制光，并且发射所述振幅水平调整调制光；以及

第二光耦合器，所述第二光耦合器将从所述光调制元件发射的所述振幅水平调整调制光与从所述电磁场传感器发射的所述信号光组合。

6.根据权利要求2所述的电磁场测量设备，其中

所述激光源构造为输出指示所述载波信号光的频率、相位和振幅的基准信号，并且

所述振幅水平比控制装置包括：

计算控制单元，所述计算控制单元基于由所述频谱分析器测量的所述电信号的频谱输出所述振幅水平控制信号；

振幅水平调整激光源，所述振幅水平调整激光源基于所述基准信号发射具有与所述载波信号光相同的频率和相同的振幅并具有根据所述振幅水平控制信号的相位的振幅水平调整激光束；以及

光耦合器，所述光耦合器将所述振幅水平调整激光束与从所述电磁场传感器发射的所述信号光组合。

7.根据权利要求1至6中任意一项所述的电磁场测量设备，其中所述振幅水平比控制装置构造为将所述载波和所述边带之间的所述振幅水平比控制为4∶1。