[发明专利]标记生成装置、标记生成检测系统、标记生成检测装置、标记、标记生成方法及其程序有效
申请号: | 201080032765.3 | 申请日: | 2010-07-22 |
公开(公告)号: | CN102473312A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 中岛升 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | G06T7/60 | 分类号: | G06T7/60;G06T1/00;G06T7/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 标记 生成 装置 检测 系统 方法 及其 程序 | ||
1.一种标记生成装置,具有:
测量单元,其根据背景图像来测量该图像中的物体的姿态变化;
不变特征变换单元,其通过与所述姿态变化相应的规定的变换处理,在不变量特征空间中示出从所述背景图像中提取出的特征点;
特殊特征选择单元,其将在所述不变量特征空间中未示出所述特征点的部分选择为特殊特征;和
标记生成单元,其使用所述特殊特征来生成标记。
2.根据权利要求1所述的标记生成装置,其中,
具有:
影像输入单元,其输入背景图像;和
特征提取单元,其从所输入的所述背景图像中提取特征点,
所述测量单元具有基数设定部,该基数设定部根据所输入的所述背景图像来测量该图像中的物体的姿态变化的种类,并根据所述姿态变化的种类,决定所对应的基准点的个数,
所述不变特征变换单元通过使用已决定的所述个数的基准点的映现处理,在不变量特征空间中示出从所述背景图像中提取出的各特征点,以作为所述规定的变换处理,
所述特殊特征选择单元将在所述不变量特征空间中未示出所述特征点的部分选择为特殊特征,
所述标记生成单元使用所述特殊特征来生成标记。
3.根据权利要求2所述的标记生成装置,其中,
所述测量单元测量平行移动、放大、缩小、旋转或错位变形的任一种或它们的组合,以作为所述姿态变化的种类,
所述基数设定部,当作为所述姿态变化的种类而仅测量到平行移动时,将所述基准点的个数决定为1,当作为所述姿态变化的种类而测量到放大、缩小或旋转的任一种以上的姿态变化或该姿态变化与平行移动的组合的姿态变化时,将所述基准点的个数决定为2,当作为所述姿态变化的种类而测量到错位变形或错位变形与平行移动、放大、缩小、旋转的任一种以上的组合的姿态变化时,将所述基准点的个数决定为3。
4.根据权利要求2或3所述的标记生成装置,其中,
所述特征提取单元具有提取所述特征点的位置信息的特征提取部,
所述影像输入单元,输入不同时刻所对应的二个以上的背景图像,
所述测量单元,根据从所述二个以上的背景图像中提取的特征点的位置变化来测量所述姿态变化的种类。
5.根据权利要求2~4的任一项所述的标记生成装置,其中,
所述测量单元具有:
基数计算部,其根据通过该测量单元所测量的姿态变化的种类来计算出所述基准点的个数;和
基数判定部,其根据所述基数计算部的处理,判定该计算出的第一基准点个数是否与在先前生成标记时的所述变换处理中所使用的基准所涉及的第二基准点个数一致,
所述基数设定部,当判定为所述第一基准点个数与所述第二基准点个数不一致时,将所述第一基准点个数决定为所述变换处理中所使用的基准点的个数,
所述不变特征变换单元执行使用了所述第一基准点个数的映现处理。
6.根据权利要求5所述的标记生成装置,其中,
所述不变特征变换单元,
当判定为所述第一基准点个数与所述第二基准点个数一致时,之后直至判定这些基准点个数不一致为止,停止执行所述规定的变换处理。
7.根据权利要求2~6的任一项所述的标记生成装置,其中,
所述基数设定部,根据输入操作,将所述基准点的个数决定为1~3的任一者。
8.一种标记生成检测系统,具有标记生成装置和标记检测装置,
所述标记生成装置,具有:
测量单元,其根据背景图像来测量该图像中的物体的姿态变化;
不变特征变换单元,其通过与所述姿态变化相应的规定的变换处理,在不变量特征空间中示出从所述背景图像中提取出的特征点;
特殊特征选择单元,其将在所述不变量特征空间中未示出所述特征点的部分选择为特殊特征;和
标记生成单元,其使用所述特殊特征来生成标记,
所述标记检测装置,具有:
标记存储单元,其存储所生成的所述标记;和
对照单元,其判断:在所述不变量特征空间中示出从用于检测所述标记的背景图像中提取出的特征点的不变量特征群的配置中,是否存在所述标记的特殊特征的配置。
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