[发明专利]用于形成金属线的蚀刻组合物有效
申请号: | 201080033704.9 | 申请日: | 2010-07-21 |
公开(公告)号: | CN102471898A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 林玟基;李昔准;张尚勋;朴英哲 | 申请(专利权)人: | 东友FINE-CHEM股份有限公司 |
主分类号: | C23F1/44 | 分类号: | C23F1/44;C23F1/26;C23F1/20 |
代理公司: | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人: | 郑立;高为华 |
地址: | 韩国全*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 形成 金属线 蚀刻 组合 | ||
1.一种蚀刻组合物,用于蚀刻由选自Ti、Ti合金、Al和Al合金组成的组中的至少一种制成的单层膜或多层膜,其中所述组合物包含:
基于所述组合物的总重,
1~20wt%H2O2,1~7wt%可离解出硝酸根离子的化合物,0.05~2wt%含氟化合物,0.5~6wt%过硫酸盐化合物,和余量水。
2.根据权利要求1所述蚀刻组合物,进一步包含0.01~5wt%环状胺化合物。
3.根据权利要求1所述蚀刻组合物,其中所述可离解出硝酸根离子的化合物选自硝酸铵、硝酸钠、硝酸钾和硝酸组成的组中的一种或多种。
4.根据权利要求1所述蚀刻组合物,其中所述含氟化合物为可离解出氟离子或多原子氟离子的化合物,并选自氟化铵、氟化钠、氟化钾、氟氢化钠、氟氢化铵和氟化氢组成的组中的一种或多种。
5.根据权利要求1所述蚀刻组合物,其中所述过硫酸盐化合物选自过硫酸铵、过硫酸钠和过硫酸钾组成的组中的一种或多种。
6.根据权利要求2所述蚀刻组合物,其中所述环状胺化合物选自吡咯烷、吡咯啉、吡咯、吲哚、吡唑、咪唑、嘧啶、嘌呤、吡啶及其衍生物组成的组中的一种或多种。
7.根据权利要求1所述蚀刻组合物,进一步包含选自硫酸、盐酸、磷酸和高氯酸组成的组中的一种或多种无机酸。
8.根据权利要求1所述蚀刻组合物,进一步包含用于控制侧蚀刻的醋酸盐化合物。
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