[发明专利]相机的抖动校正装置有效
申请号: | 201080035041.4 | 申请日: | 2010-08-12 |
公开(公告)号: | CN102472944A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 森谷昭弘;菅原正吉 | 申请(专利权)人: | 三美电机株式会社 |
主分类号: | G03B5/00 | 分类号: | G03B5/00;H04N5/232 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 姜虎;陈英俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相机 抖动 校正 装置 | ||
1.一种抖动校正装置(10;10A;10B),通过使自动聚焦用透镜驱动装置(20;20A;20B)整体或其可动部沿与光轴(O)正交且彼此正交的第一方向(X)以及第二方向(Y)移动,从而校正抖动,该自动聚焦用透镜驱动装置(20;20A;20B)用于使透镜镜筒(12;12A)沿所述光轴(O)移动,其中,
所述自动聚焦用透镜驱动装置(20;20A;20B)具备:
聚焦线圈(26;26A-1、26A-2;26B-1、26B-2);以及
永磁体(28;28A;28B),与该聚焦线圈相对设置且相对于所述光轴(O)设置于该聚焦线圈的径向外侧,
所述抖动校正装置(10;10A;10B)具有:
基座(14;14A;14B),在所述自动聚焦用透镜驱动装置(20;20A;20B)的底面部隔开地设置;
多根吊线(16;16A;16B),一端固定于该基座的外周部,且沿着所述光轴(O)延伸,以使所述自动聚焦用透镜驱动装置(20;20A;20B)整体或其可动部能够沿所述第一方向(X)和所述第二方向(Y)摇动的方式支承该自动聚焦用透镜驱动装置(20;20A;20B)整体或其可动部;以及
抖动校正用线圈(18;18A;18B),与所述永磁体相对设置。
2.如权利要求1所述的抖动校正装置(10;10A;10B),其中,
所述自动聚焦用透镜驱动装置(20;20A;20B)具备:
透镜保持架(24;24A;24B),具有用于保持所述透镜镜筒(12;12A)的筒状部(240;240A;240B),所述聚焦线圈(26;26A-1、26A-2;26B-1、26B-2)以位于所述筒状部(240;240A;240B)的周围的方式固定于所述透镜保持架;
磁体保持架(30;30A;30B),设置于该透镜保持架的外周,保持所述永磁体(28;28A;28B);以及
一对板簧(32、34;32A、34A;32B、32B),支承该透镜保持架(24;24A;24B),以使所述透镜保持架(24;24A;24B)在径向被定位的状态下能够沿所述光轴(O)方向进行位移。
3.如权利要求2所述的抖动校正装置(10),其中,
所述自动聚焦用透镜驱动装置(20)具有安装于所述磁体保持架(30)的上端的上侧基板(36),所述多根吊线(16)的另一端固定于所述上侧基板(36)。
4.如权利要求2或3所述的抖动校正装置(10),其中,
所述一对板簧(32、43)在所述透镜保持架(24)与所述磁体保持架(30)之间连接并被固定。
5.如权利要求4所述的抖动校正装置(10),其中,
所述永磁体(28)包含在所述第一方向(X)以及所述第二方向(Y)上彼此相对设置的多个永磁体片(282),
所述抖动校正用线圈(18)设置于所述多个永磁体片的外侧,
所述抖动校正装置(10)具备与所述多个永磁体片(282)分别相对地隔开设置并形成有所述抖动校正用线圈(18)的多个线圈基板(40)。
6.如权利要求5所述的抖动校正装置(10),其中,
还包括:覆盖所述多个线圈基板(40)的保护罩(42)。
7.如权利要求6所述的抖动校正装置(10),其中,
所述多个线圈基板(40)安装在所述保护罩(42)的内壁上。
8.如权利要求5至7中任一项所述的抖动校正装置(10),其中,
包括用于检测所述自动聚焦用透镜驱动装置(20)相对于所述基座(14)的位置的位置检测单元(50)。
9.如权利要求8所述的抖动校正装置(10),其中,
所述位置检测单元由与所述永磁体片(182)隔开地相对设置并安装在所述基座(14)上的霍尔元件(50)构成。
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