[发明专利]测定机器系统内运行用料的化学和/或物理特性的方法与装置

权利要求书

1.一种测定一机器系统(2)(尤其是一浮动设备中的机器系统)内运行用料的化学和/或物理特性的方法，其中，用光照射所述运行用料并且对透射所述运行用料或者被所述运行用料反射的光进行光谱分析，其特征在于，

所述运行用料受照时至少具有一预定温度范围以内的温度，优选正好具有一预定温度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

在照射所述运行用料之前，将其加热或冷却至所述选自所述规定温度范围以内的温度，优选加热或冷却至所述规定温度。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述预定温度范围最高为10K。

4.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，

进行所述光谱分析时，借助多个不同算法测定所述运行用料的多项不同化学和/或物理特性。

5.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，

在一被所述运行用料穿过的测量单元(8)内用光照射所述运行用料，所述测量单元特定而言为一透射测量单元。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

用一清洁流体清洁所述测量单元(8)。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

将所述清洁流体用作一参照介质来检验所述测量单元(8)的运行是否正确。

8.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，

利用为所述运行用料所测定的化学和/或物理特性来控制所述机器系统(2)的运行。

9.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，

为在某一时间点上测定的所述运行用料的化学和/或物理特性分配一时间说明和一位置说明。

10.一种用于测定一机器系统(2)(尤其是一浮动设备中的机器系统)内运行用料的化学和/或物理特性的装置(1)，包括一测量评价设备(11)，所述测量评价设备包括一用光照射运行用料的光源(13)和一用于对透射所述运行用料或者被所述运行用料反射的光进行光谱分析的分光计(14)，其特征在于，一加热设备(21)和/或一冷却设备，其用于将所述运行用料加热和/或冷却至至少一选自一预定温度范围的温度，优选正好加热和/或冷却至一规定温度。

11.根据权利要求10所述的装置(1)，其特征在于，

所述预定温度范围最高为10K。

12.根据权利要求10或11中任一项所述的装置(1)，其特征在于，

所述测量评价设备(11)内存储有多个用于测定所述运行用料的多项不同化学和/或物理特性的不同算法。

13.根据权利要求10至12中任一项所述的装置(1)，其特征在于，

在一被所述运行用料穿过的测量单元(8)内用光照射所述运行用料，所述测量单元特定而言为一透射测量单元。

14.根据权利要求13所述的装置(1)，其特征在于一包含一清洁流体的储存器(31)，其中，所述储存器(31)可与所述测量单元(8)连接。

15.根据权利要求10至14中任一项所述的装置(1)，其特征在于多个测量单元(8)，所述测量单元可以测定所述机器系统(2)的多种不同运行用料的化学和/或物理特性，以及/或者可以在所述机器系统(2)的多个不同位置上测定同一种运行用料的化学和/或物理特性，并且所述测量单元通过光缆(15)与所述测量评价设备(11)连接或者可以通过光缆(15)与所述测量评价设备(11)连接。

16.根据权利要求10至15中任一项所述的装置(1)，其特征在于，

所述测量评价设备(11)与所述机器系统(2)的一自动化系统(50)联接。

17.根据权利要求10至16中任一项所述的装置(1)，其特征在于，

所述测量评价设备(11)与一GPS接收器(30)联接。