[发明专利]绝缘电阻测量装置以及绝缘电阻测量方法无效
申请号: | 201080037411.8 | 申请日: | 2010-05-18 |
公开(公告)号: | CN102483434A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 石井隆文;吉富政宣 | 申请(专利权)人: | 吉坤日矿日石能源株式会社;有限会社吉富电气;日本邮船株式会社;株式会社MTI |
主分类号: | G01R27/18 | 分类号: | G01R27/18;G01R31/02 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 绝缘 电阻 测量 装置 以及 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于测量直流电路的对地绝缘电阻的绝缘电阻测量装置以及绝缘电阻测量方法。
背景技术
以往,作为电源电路等直流电路的安全对策,检测接地是受到重视的。当直流电路中存在接地位置时,会由于接触到直流电路的绝缘不良位置而引发触电事故,不仅如此,还有时会产生起因于两个接地位置的火灾。作为检测这种接地的方法,已知如下述专利文献1所记载的那样的方法:通过检测用芯来检测流过多个直流线的直流电流的电流量之差,由此检测测量对象导线中产生的直流接地。除此以外,还已知以下的方法:经由电阻元件将交流电源连接到直流电路的测量点,根据流经该电阻成分的电流中是否存在与施加电压同相的成分来检测是否存在接地;在直流电路的测量点与接地电位之间连接直流电源和电阻元件来对测量点施加直流偏压,测量经由电阻元件的漏电流,由此检测是否存在接地。
专利文献1:日本特开2004-153991号公报
发明内容
发明要解决的问题
然而,在上述专利文献1所记载的检测方法中,如果实际产生了接地电流则能够检测到该接地电流,但是难以检测到潜存有导致接地的危险性的绝缘不良。另外,在将交流电源连接到直流电路的方法中,需要检测与流经电阻元件的电流有关的相位差,因此检测电路的结构有复杂化的倾向。并且,在对直流电路施加直流偏压的方法中,检测灵敏度很大程度上受接地位置左右,除此以外施加不需要的直流电压这件事本身也会招致接地或直流电路的故障,并不理想。
因此,本发明是鉴于上述问题而完成的,其目的在于提供一种能够利用简易的检测电路来高灵敏度且安全地检测到直流电路的绝缘不良的绝缘电阻测量装置以及绝缘电阻测量方法。
用于解决问题的方案
为了解决上述问题,本发明的绝缘电阻测量装置测量直流电路的对地绝缘电阻,具备:第一连接端子和第二连接端子,用于与直流电路的两个测量点连接;切换部,其连接在第一连接端子与接地电位之间以及第二连接端子与接地电位之间,对第一连接端子与接地电位之间以及第二连接端子与接地电位之间的连接进行切换;至少一个电阻元件,其与切换部串联连接在第一连接端子与接地电位之间以及第二连接端子与接地电位之间;以及电压检测部,其检测电阻元件中的压降。
根据这种绝缘电阻测量装置,在直流电路的两个测量点上分别连接第一连接端子和第二连接端子,将切换部排他性地切换到第一连接端子侧和第二连接端子侧,由此能够利用电压检测部分别对连接在其中一个连接点与接地电位之间的电阻元件中的压降和连接在另一个连接点与接地电位之间的电阻元件中的压降进行检测。其结果是,能够根据两个压降的值来导出直流电路的对地绝缘电阻。因而,能够利用简易的检测电路来与绝缘不良的位置无关地高灵敏度地检测直流电路的绝缘不良,并且也无需施加不需要的电压,因此检测时的安全性也能够得到确保。
或者,本发明的绝缘电阻测量方法测量直流电路的对地绝缘电阻,该绝缘电阻测量方法包括以下步骤:将电阻元件连接在直流电路的第一测量点与接地电位之间,检测该电阻元件中产生的第一压降;将与上述电阻元件相同或不同的电阻元件连接在直流电路的第二测量点与接地电位之间,检测该电阻元件中产生的第二压降;以及根据第一压降和第二压降的值来计算对地绝缘电阻。
根据这种绝缘电阻测量方法,在直流电路的第一测量点上连接第一连接端子,在检测出连接在第一连接点与接地电位之间的电阻元件中的压降之后,在直流电路的第二测量点上连接第二连接端子,检测连接在第二连接点与接地电位之间的电阻元件中的压降。然后,根据两个压降的值来导出直流电路的对地绝缘电阻。由此,能够利用简易的检测电路来与绝缘不良的位置无关地高灵敏度地检测直流电路的绝缘不良,并且也无需施加不需要的电压,因此检测时的安全性也能够得到确保。
发明的效果
根据本发明的绝缘电阻测量装置,能够利用简易的检测电路来高灵敏度且安全地检测直流电路的绝缘不良。
附图说明
图1是将本发明的优选的一个实施方式所涉及的绝缘电阻测量装置的结构与作为测量对象的直流电源电路一起示出的电路框图。
图2是表示利用图1的绝缘电阻测量装置的绝缘电阻测量方法的流程图。
图3是将本发明的变形例所涉及的绝缘电阻测量装置的结构与作为测量对象的直流电源电路一起示出的电路框图。
图4是用于说明本发明的比较例所涉及的绝缘电阻测量方法的电路框图。
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