[发明专利]氮化物系半导体元件及其制造方法无效
申请号: | 201080041041.5 | 申请日: | 2010-12-21 |
公开(公告)号: | CN102511085A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 横川俊哉;大屋满明;山田笃志;加藤亮 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L33/40 | 分类号: | H01L33/40;H01L33/32 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 元件 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及氮化物系半导体元件及其制造方法。特别是,本发明涉及从紫外光到蓝色、绿色、橙色以及白色等可见光波段整个波段内的发光二极管、激光二极管等GaN系半导体发光元件。这样的发光元件在显示、照明以及光信息处理领域等中的应用备受瞩目。此外,本发明涉及在氮化物系半导体元件中使用的电极的制造方法。
背景技术
作为V族元素而具有氮(N)的氮化物半导体因为其带隙的大小,有望作为短波长发光元件的材料。其中,氮化镓系化合物半导体(GaN系半导体:AlxGayInzN(0≤x、y、z≤1,x+y+z=1)的研究正在盛行,蓝色发光二极管(LED)、绿色LED以及以GaN系半导体为材料的半导体激光器也正在被实用化(例如参照专利文献1、2)。
GaN系半导体具有纤锌矿型结晶结构。图1示意性示出GaN的单位晶格。在AlxGayInzN(0≤x、y、z≤1、x+y+z=1)半导体的结晶中,图1所示的Ga的一部分可被替换成Al和/或In。
图2示出为了用4指数标记(六方晶指数)表示纤锌矿型结晶结构的面而一般使用的4个基本向量a1、a2、a3、c。基本向量c在[0001]方向上延伸,该方向被称为“c轴”。垂直于c轴的面(plane)被称为“c面”或者“(0001)面”。另外,“c轴”和“c面”有时也分别标记为“C轴”和“C面”。在附图中,为了便于观察,使用了大写的文字标记。
在使用GaN系半导体制作半导体元件的情况下,作为使GaN系半导体结晶生长的基板,使用c面基板,即在表面上具有(0001)面的基板。但是,由于在c面中,Ga原子层和氮原子层的位置稍微偏向c轴方向,因此形成极化(Electrical Polarization)。因此,有时将“c面”称作“极性面”。极化的结果,在活性层的InGaN量子阱中沿着c轴方向会产生压电电场。若在活性层中产生这种压电电场,则因载流子的量子限制斯塔克效应,在活性层内的电子和空穴的分布中会产生位置偏移,内部量子效率会降低。因此,若是半导体激光器,则会引起阈值电流的增大。若是LED,则会引起功耗的增大或发光效率的降低。此外,随着注入载流子密度的上升会引起压电电场的屏蔽,也会引起发光波长的变化。
因此,为了解决这些课题,研究了在表面上具有非极性面、即例如垂直于[10-10]方向的被称为m面的(10-10)面的基板。在此,在表示密勒指数的括号内的数字的左边所附加的“-”意味着横杠。如图2所示,m面是平行于c轴(基本向量c)的面,且与c面正交。由于在m面中,Ga原子和氮原子位于同一原子面上,因此在垂直于m面的方向上不会产生极化。其结果,若在垂直于m面的方向上形成半导体层叠结构,则在活性层中也不会产生压电电场,因此能够解决上述课题。
m面是(10-10)面、(-1010)面、(1-100)面、(-1100)面、(01-10)面以及(0-110)面的总称。另外,在本说明书中,“X面生长”是指在垂直于六方晶纤锌矿结构的X面(X=c、m)的方向上产生外延生长。在X面生长中,有时将X面称为“生长面”。此外,有时将通过X面生长形成的半导体的层称为“X面半导体层”。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2001-308462号公报
专利文献2:日本特开2003-332697号公报
专利文献3:日本特开平8-64871号公报
专利文献4:日本特开平11-40846号公报
发明内容
(发明想要解决的课题)
如上所述,在m面基板上生长的GaN系半导体元件与在c面基板上生长的GaN系半导体元件相比,可发挥显著的效果,但是存在如下的问题。即,与在c面基板上生长的GaN系半导体元件相比,在m面基板上生长的GaN系半导体元件的接触电阻大,这在使用在m面基板上生长的GaN系半导体元件的方面成为很大的技术障碍。
在这种情形下,本申请的发明人为了解决在作为非极性面的m面上生长的GaN系半导体元件所具有的接触电阻较高这样的课题而进行研究的结果,发现了能够降低接触电阻的方法。
本发明鉴于上述情况而完成,其主要目的在于,提供一种能够降低在m面基板上结晶生长的GaN系半导体元件中的接触电阻的结构及制造方法。
(用于解决课题的手段)
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