[发明专利]芳香族烃树脂和光刻用下层膜形成组合物有效
申请号: | 201080041176.1 | 申请日: | 2010-09-14 |
公开(公告)号: | CN102574963A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 井出野隆次;北诚二;荻原雅司;东原豪 | 申请(专利权)人: | 三菱瓦斯化学株式会社 |
主分类号: | C08G10/02 | 分类号: | C08G10/02;C08G61/10;G03F7/11 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芳香族 树脂 光刻 下层 形成 组合 | ||
1.一种芳香族烃树脂,其通过使式[1]所示的芳香族烃和式[2]所示的醛在酸性催化剂的存在下反应而得到,
式[1]中,R表示氢或碳原子数1~4的烷基,l和m分别表示1~3的数,A表示0~2的数,l和m各自为2以上时,存在的多个R可以相同也可以不同;
式[2]中,X表示氢、碳原子数1~10的烷基、碳原子数6~10的芳基、环己基、羟基、甲酰基或羰基,p和q分别表示1~3的数,B表示0~2的数,p和q各自为2以上时,存在的多个X可以相同也可以不同。
2.根据权利要求1所述的芳香族烃树脂,其中,式[1]所示的芳香族烃为选自苯、甲苯、二甲苯、三甲苯、萘、甲基萘、二甲基萘和蒽中的至少一种。
3.根据权利要求1或2中任一项所述的芳香族烃树脂,其中,式[2]所示的醛类为选自苯甲醛、甲基苯甲醛、乙基苯甲醛、丙基苯甲醛、丁基苯甲醛、环己基苯甲醛、联苯甲醛、羟基苯甲醛、二羟基苯甲醛、萘甲醛、和羟基萘甲醛中的至少一种。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的芳香族烃树脂,其中,酸性催化剂为选自盐酸、硫酸、磷酸、草酸、甲酸、对甲苯磺酸、甲磺酸、三氟乙酸、三氟甲磺酸、氯化锌、氯化铝、氯化铁、三氟化硼、硅钨酸、磷钨酸、硅钼酸和磷钼酸中的至少一种。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的芳香族烃树脂,其以下述式(3)表示,
式[3]中,n为1~50的数,R、X、l、m、p和q均与所述式(1)和(2)相同。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的芳香族烃树脂,其中,碳浓度为90~99.9质量%。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的芳香族烃树脂,其中,氧浓度为0~5质量%。
8.一种光刻用下层膜形成组合物,其为用于在基板与抗蚀剂层之间形成下层膜的下层膜形成组合物,至少包含权利要求1~7中任一项所述的芳香族烃树脂和有机溶剂。
9.根据权利要求8所述的光刻用下层膜形成组合物,其还配合有产酸剂。
10.根据权利要求8或9所述的光刻用下层膜形成组合物,其还配合有交联剂。
11.一种光刻用下层膜,其由权利要求8~10中任一项所述的光刻用下层膜形成组合物形成。
12.一种多层抗蚀图案的形成方法,其特征在于,使用权利要求8~10中任一项所述的下层膜形成组合物在基板上形成下层膜,在该下层膜上形成至少1层光致抗蚀剂层,然后在该光致抗蚀剂层的所需区域照射辐射线,进行碱性显影形成抗蚀图案后,将该抗蚀图案作为掩模,利用至少含有氧气的等离子体对所述下层膜进行蚀刻,将抗蚀图案转印在所述下层膜上。
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