[发明专利]自动分析装置

说明书

技术领域

本发明涉及可以测定检查对象溶液中的特定离子的浓度的自动分析装置。

背景技术

以往，在检查对象溶液中的特定离子的浓度(或活度)的测定中使用离子选择性电极。

离子选择性电极大致可以分为固体膜型、玻璃膜型、中性载体型这3类。其中，中性载体型的电极也被称为液膜型。该离子选择电极产生遵从以下表示的能斯特公式的电动势。

E＝Eo+(RT/nF)logCx      (式1)

在此，Eo是标准电极电位，R是阿伏伽德罗数，T是绝对温度，n是测定对象离子的电荷(荷数)，F是法拉第常数，Cx是测定对象离子的浓度。

在上述的能斯特(Nernst)公式中，(RT/nF)的项表示电极灵敏度，一般被称为电极斜率(Slope)。该电极斜率理论上在绝对温度300℃(测定温度27℃)下计算为59mv/dec。该电极斜率，若电极膜中没有异常则在一定期间中大致恒定，但是准确来说成为各个电极所固有的值。该电极斜率有时比逻辑值大幅度降低，一般用于电极使用寿命的判定。因此，在现有的离子浓度自动测定装置中，为了避免该电极使用寿命的影响，准确地进行离子浓度测定，在被检液的测定开始前实施确认电极斜率的工序、一般被称为校准的工序。在该校准中，使用高浓度和低浓度的两种浓度已知的校正液，分别测定与浓度对应的电动势(在测定装置中，在与比较电极之间产生的电位差)。使用该各个测定值，根据Nernst公式决定电极斜率。通常，在离子浓度自动分析装置中，在被检液的测定开始前至少一天一次实施使用该高浓度液、低浓度液的两种浓度已知的校正液来进行的、所谓的两点校准。

在该校正液的供给量不充分、或者校准执行后的校正液的除去或清洗不充分、影响到下次测定的情况下，成为测定异常，无法进行正常的校正或者成为误测定的原因。因此，提出了检测该异常值的各种方法(例如参照专利文献1或专利文献2)。另外，还提出了预先防止异常的发生的方法(例如参照专利文献3或专利文献4)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平2-159548号公报

专利文献2：日本特开2004-251799号公报

专利文献3：日本特开2001-264283号公报

专利文献4：日本特开2008-051620号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，在任何情况下，需要每天进行校准的装置的情况下，离子浓度的测定开始都至少延迟执行该校准所需的时间。而且，由于需要校准专用的试剂(校正液等)，试剂的成本增加在检查侧成为很大负担。另外，试剂的供给泵等消耗部件的维护或更换操作花费工夫和成本。因此，要求削减校准的执行次数。

因此，本发明的目的在于提供一种具有离子选择性电极盒的自动分析装置，其在预想的可使用期间(电极使用寿命期间)或次数的期间不需要执行两点校准等校准。

用于解决课题的手段

本发明人经过锐意研究，发现通过从离子选择性电极盒的信息提示部直接读出离子选择性电极的电极斜率值可以解决上述课题，并作出本发明。

即，本发明提供一种自动分析装置，其从配置了至少一个离子选择性电极的离子选择性电极盒的信息提示部读取与各个离子选择性电极固有的电极斜率相关的信息，用于在离子选择性电极盒的预定部位注入的检查对象溶液中的特定离子的浓度的测定。

发明效果

根据本发明，可以直接读出构成要使用的离子选择性电极盒的离子选择性电极固有的电极斜率值，开始离子浓度的测定。

附图说明

图1是表示实施方式的自动分析装置的全体结构例的图。

图2是说明在自动分析装置中使用的控制系统模块的图。

图3是说明基于基准液的测定浓度的修正原理的图。

图4是说明在离子选择性电极单元中使用的控制系统模块的图。

图5是说明离子选择性电极测定单元的外观构造的图。

图6是说明离子选择性电极盒的外观例的图。

图7是表示钠离子的电极斜率例子的图。

图8是从斜上方观察试剂盒的图。

图9是从背面侧观察试剂盒的图。

图10是说明测定动作的流程的图。

具体实施方式

(自动分析装置)

使用附图详细说明本发明的自动分析装置。图1表示在实施方式中使用的自动分析装置的全体结构例。另外，图2表示自动分析装置的控制系统模块的结构例。