[发明专利]用于在线幅材属性测量的方法和装置

权利要求书

1.一种用于在材料的幅材正在被制造并且正在沿机器方向(MD)移动时通过沿横向机器方向(CD)跨着所述幅材往复扫描测量装置以测量所述幅材的至少一种属性的方法，所述测量装置包括被引向所述幅材的适于测量所述至少一种属性的辐射的源以及从所述幅材接收测量辐射的至少第一和第二传感器，所述方法包括：

在跨着所述幅材的连续点接收代表所述幅材的所述至少一种属性的辐射；

测量跨着所述幅材的所述连续点处的温度；

在所述幅材的边缘处中断所述测量辐射；

在所述测量辐射被中断时在所述幅材的所述边缘处感测辐射；

测量所述幅材的所述边缘的温度；

对于跨着所述幅材的所述连续点中的每一个，从所述幅材边缘温度和测量的所述连续点的温度开发对于所述至少一种属性的校正因子；以及

在跨着所述幅材的所述连续点中的每一个处应用所述校正因子，以校正包含于在跨着所述幅材的所述连续点处接收的代表所述幅材的至少一种属性的辐射中的普朗克辐射。

2.如权利要求1所述的方法，其中，在所述幅材的边缘处中断所述测量辐射包含在所述幅材的每第n个边缘处中断所述测量辐射。

3.如权利要求1所述的方法，其中，开发校正因子包含开发电压水平形式的校正因子。

4.如权利要求3所述的方法，其中，开发电压水平形式的校正因子包含求解下式：

χ_planck(T)=SχUλχ5(exp(V(T+273.15)λχ)-1)-1]]>

这里，

χ＝至少一种属性；

U＝2hc²；

V＝hc/k；

λ_χ＝至少一种属性波长；

T＝幅材温度，单位为℃；以及

S_χ＝属性的通过量头常数。

5.如权利要求1所述的方法，其中，在跨着所述幅材的连续点处接收代表所述幅材的所述至少一种属性的辐射还包含：

将代表所述幅材的所述至少一种属性的所述辐射分离成至少第一和第二部分；以及

将所述至少第一和第二部分分配给所述至少第一和第二传感器。

6.如权利要求5所述的方法，其中，分离代表所述幅材的所述至少一种属性的所述辐射以及将所述至少第一和第二部分分配给所述至少第一和第二传感器由射束分离装置执行，并进一步包含所述辐射的均匀化。

7.如权利要求6所述的方法，其中，所述辐射的均匀化由包含光纤捆的所述射束分离装置执行，并且包括：

从所述射束分离装置的输入端口的基本上整个辐射输入表面随机选择所述光纤中的多个；

分别路由所述光纤中的所述随机选择的多个，以形成与所述辐射的所述第一和第二部分对应的光纤的至少第一和第二子捆；和

在所述射束分离装置的至少第一和第二输出端口上随机分配所述至少第一和第二子捆的光纤。