[发明专利]FRET测量方法及装置

权利要求书

1.一种FRET测量方法，将激光照射在用第一分子和第二分子进行标记的测量样品上，并测量能量从第一分子朝向第二分子转移的FRET，其特征在于，该测量方法包括如下步骤：

最短荧光寿命计算步骤，对于第一分子浓度和第二分子浓度之比不同的多个预先测量样品，计算出第一分子的荧光寿命，并计算出第一分子的荧光寿命的最小值；

照射步骤，将对强度进行了时间调制的激光照射在所述测量样品上；

测量步骤，测量所述测量样品被所述激光照射而发出的荧光；

第一分子荧光寿命计算步骤，利用所述测量步骤中被测量的荧光信号计算出第一分子的荧光寿命；

FRET发生率计算步骤，利用在所述最短荧光寿命计算步骤中计算出的第一分子荧光寿命的最小值和计算出的所述第一分子荧光寿命，计算出所述测量样品中的第一分子中发生FRET的第一分子的比例。

2.根据权利要求1所述的FRET测量方法，其特征在于，

在所述FRET发生率计算步骤中，进一步利用第二分子不存在时的第一分子的荧光寿命求出所述比例。

3.根据权利要求1或2所述的FRET测量方法，其特征在于，该方法包括观察矩阵计算步骤，在该步骤中从所述测量步骤中测量的荧光信号，计算出用于求出通过在所述照射步骤中被激光照射而第一分子发出的荧光信息和第二分子发出的荧光信息的矩阵，所述观察矩阵计算步骤包括：

第一步骤，利用对包含第一分子但不包含第二分子、且第一分子的浓度不同的多个样品照射对强度进行了时间调制的激光而测量的荧光信号，求出所述矩阵成分的一部分；

第二步骤，利用对包含第二分子但不包含第一分子、且第二分子的浓度不同的多个样品照射对强度进行了时间调制的激光而测量的荧光信号，求出所述矩阵成分的一部分。

4.根据权利要求1至3任一项所述的FRET测量方法，其特征在于，该方法包括解离常数计算步骤，在该步骤中利用所述FRET发生率计算步骤中计算出的所述比例计算出表示第一分子和第二分子结合情况的解离常数。

5.根据权利要求1至4任一项所述的FRET测量方法，其特征在于，在所述第一分子荧光寿命计算步骤中，利用在所述测量步骤中测量的荧光信号和调制所述激光的调制信号的相位差，计算出第一分子的荧光寿命。

6.根据权利要求3所述的FRET测量方法，其特征在于，

在所述第一步骤中，利用对包含第一分子但不包含第二分子、且第一分子浓度不同的多个样品照射对强度进行了时间调制的激光而测量的荧光信号的振幅、以及所述荧光信号和调制所述激光的调制信号的相位差，求出所述矩阵成分的一部分；

在所述第二步骤中，利用对包含第二分子但不包含第一分子、且第二分子浓度不同的多个样品照射对强度进行了时间调制的激光而测量的荧光信号的振幅、以及所述荧光信号和调制所述激光的调制信号的相位差，求出所述矩阵成分的一部分。

7.根据权利要求4所述的FRET测量方法，其特征在于，该方法包括：

第一分子浓度计算步骤，利用第一分子发出的荧光信息计算出第一分子的浓度；

第二分子浓度计算步骤，利用第二分子发出的荧光信息计算出第二分子浓度；

在所述解离常数计算步骤中，利用在所述第一分子浓度计算步骤中计算出的第一分子浓度和在所述第二分子浓度计算步骤中计算出的第二分子浓度计算出所述解离常数。

8.一种FRET测量装置，将激光照射在用第一分子和第二分子标记的测量样品上，由此测量出能量从第一分子朝向第二分子转移的FRET，其特征在于，包括：

激光光源部，将对强度进行了时间调制的激光照射在所述测量样品上；

测量部，测量所述测量样品被所述激光照射而发出的荧光；

荧光寿命计算部，利用所述测量部测量的荧光信号计算出第一分子荧光寿命；

最短荧光寿命计算部，利用第一分子浓度和第二分子浓度比不同的多个预先测量样品中的第一分子荧光寿命，计算出第一分子荧光寿命的最小值；

FRET发生率计算部，利用在所述最短荧光寿命计算部中计算出的第一分子荧光寿命的最小值和在所述荧光寿命计算部中计算出的第一分子荧光寿命，计算出所述测量样品中的第一分子中发生FRET的第一分子的比例。