[发明专利]原位内存退火无效
申请号: | 201080042995.8 | 申请日: | 2010-06-29 |
公开(公告)号: | CN102576569A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | I·夏菲尔 | 申请(专利权)人: | 拉姆伯斯公司 |
主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34;G11C16/16;G11C7/04 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 酆迅 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 原位 内存 退火 | ||
1.一种操作具有非易失性内存装置和至少一个其它内存装置的系统的方法,所述方法包括:
在所述系统操作期间检测事件;
将数据从所述非易失性内存装置撤至所述至少一个其它内存装置;和
将所述非易失性内存加热至极限温度以消除所述非易失性内存装置的使用所致的退化。
2.根据权利要求1所述的方法,其中在所述系统操作期间检测所述事件包括确定自检测先前事件起经过了预定量的时间,其中先前响应所述先前事件将所述非易失性内存装置加热至所述极限温度。
3.根据权利要求2所述的方法,其中确定经过预定量时间包括自先前响应所述先前事件将所述装置加热至所述极限温度起,确定在所述非易失性内存装置内已经执行的操作的极限数目。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述非易失性内存装置包括闪存内存装置。
5.根据权利要求1所述的方法,其中在所述系统操作期间检测所述事件包括结合所述非易失性内存装置的操作确定已经到达的错误极限。
6.根据权利要求5所述的方法,其中确定已经到达错误极限包括确定已经检测到的坏存储区块的预定数目。
7.根据权利要求1所述的方法,其中在所述系统操作期间检测所述事件包括检测由所述系统内的可编程寄存器指定的事件的发生。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述至少一个其它内存装置大体上由非易失性内存组成,且其中所述非易失性内存装置和所述至少一个其它内存装置示例于主内存的扁平层位中。
9.根据权利要求8所述的方法,其中所述非易失性内存装置为所述系统内的多个内存装置的第一内存装置,且其中所述方法包括在将所述非易失性内存装置加热至所述极限温度的同时,在所述多个内存装置的至少一个内存装置而非所述非易失性内存装置内执行内存访问。
10.根据权利要求1所述的方法,其中在将所述非易失性内存装置加热至所述极限温度之前执行撤出。
11.根据权利要求1所述的方法,其中所述至少一个其它内存装置包括第二内存装置和第三内存装置,且其中撤出数据包括将第一子组数据从所述非易失性内存装置撤至所述第二内存装置,并且将不同于所述第一子组数据的第二子组数据撤至所述第三内存装置。
12.一种数据存储系统,其包括:
非易失性内存装置;
至少一个其它内存装置;和
控制电路,其在所述数据存储系统操作期间检测指示抵消所述非易失性内存装置的使用有关退化的需要的事件,且其响应检测到所述事件加热所述非易失性内存装置以抵消所述使用有关退化;和
数据迁移电路,其执行下列项之一:(1)在加热所述非易失性内存装置之前将数据从所述非易失性内存装置撤至所述至少一个其它内存装置,或者(2)在加热所述非易失性内存装置之后在所述非易失性内存装置中自所述至少一个其它内存装置重建数据。
13.根据权利要求12所述的数据存储系统,其中所述内存装置包括非易失性存储单元,所述非易失性存储单元在执行编程操作以在所述非易失性存储单元内存储数据时将渐渐减少的数据保持时间展现为使用有关退化的一个方面。
14.根据权利要求12所述的数据存储系统,其中检测指示抵消使用有关退化的需要的事件的所述电路包括检测所述内存装置内已经执行的性能退化操作的极限数目的电路。
15.根据权利要求14所述的数据存储系统,其中检测已经执行的性能退化操作的极限数目的所述电路包括可编程寄存器,和在从外接至所述数据存储系统的源接收指示性能退化操作的所述极限数目的值后在所述可编程寄存器内存储所述值的电路。
16.根据权利要求12所述的数据存储系统,其中所述数据迁移撤出电路在加热所述非易失性内存装置之前执行将数据从所述非易失性内存装置撤至所述至少一个其它内存装置。
17.根据权利要求12所述的数据存储系统,其中检测指示抵消使用有关退化的需要的事件的所述电路包括确定在所述非易失性内存装置操作期间已经检测到的错误的极限数量的电路。
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