[发明专利]可编程协议发生器

权利要求书

1.一种半导体器件测试器，包括：

可编程硬件，其配置为测试半导体被测器件，其中所述可编程硬件通过两个或更多个码型发生器编程以控制所述半导体被测器件接收和发送的数据流。

2.根据权利要求1所述的半导体器件测试器，其中所述两个或更多个码型发生器被编程以：

向半导体被测器件发送数据；以及

从所述半导体被测器件接收数据。

3.根据权利要求1所述的半导体器件测试器，其中所述码型发生器中的一个包括发送可编程码型发生器以向所述半导体被测器件发送数据。

4.根据权利要求2所述的半导体器件测试器，其中所述码型发生器中的一个包括接收可编程码型发生器以从所述半导体被测器件接收数据。

5.根据权利要求4所述的半导体器件测试器，其中所述接收可编程码型发生器配置为对从所述半导体被测器件接收的所述数据执行一个或多个操作码。

6.根据权利要求3所述的半导体器件测试器，其中所述发送可编程码型发生器与所述接收可编程码型发生器进行通信。

7.根据权利要求1所述的半导体器件测试器，其中所述接收码型发生器向所述发送码型发生器发送消息，所述消息指示所述发送码型发生器应向所述半导体被测器件发送数据。

8.根据权利要求3所述的半导体器件测试器，其中所述发送码型发生器配置为执行一个或多个指定要发送的所述数据的操作码。

9.根据权利要求3所述的半导体器件测试器，其中所述接收可编程码型发生器配置为向所述发送可编程码型发生器发送消息，所述消息包括指示所述发送可编程码型发生器应向所述半导体被测器件发送数据的数据。

10.根据权利要求1所述的半导体器件测试器，还包括数据控制器以控制所述可编程硬件输入和输出的所述数据流。

11.根据权利要求10所述的半导体器件测试器，其中所述数据控制器与所述发送可编程码型发生器进行通信，并且所述数据控制器配置为向所述发送可编程码型发生器发送命令，所述命令包括指定所述发送可编程码型发生器要执行的一个或多个操作码的数据。

12.根据权利要求10所述的半导体器件测试器，其中所述数据控制器与所述接收可编程码型发生器进行通信，并且所述数据控制器配置为向所述接收可编程码型发生器发送命令，所述命令包括指定所述接收可编程码型发生器要执行的一个或多个操作码的数据。

13.一种测试半导体器件的方法，所述方法包括：

对硬件进行编程以测试所述半导体器件，其中所述硬件包括：

发送码型发生器，其能够通过操作码编程以向所述半导体被测器件发送数据比特；以及

接收码型发生器，其能够通过操作码编程以对所述接收的数据比特执行数据操作。

14.根据权利要求13所述的方法，还包括：

向半导体被测器件发送一个或多个比特的数据；以及

从半导体被测器件接收一个或多个比特的数据。

15.根据权利要求14所述的方法，还包括由所述发送码型发生器执行一个或多个指定要发送的所述数据的操作码。

16.根据权利要求14所述的方法，还包括：

对从所述半导体被测器件接收的所述一个或多个比特的数据执行一个或多个操作码。

17.根据权利要求13所述的方法，另外其中所述发送码型发生器在向所述半导体被测器件发送数据比特之前，等待从所述接收码型发生器接收电信号。

18.一种半导体器件，包括：

可编程硬件，其通过接收码型发生器和发送码型发生器编程，其中

所述发送码型发生器配置为向半导体被测器件发送一个或多个比特的数据；

所述接收码型发生器配置为与所述发送码型发生器进行通信；

所述接收码型发生器配置为从所述半导体被测器件接收一个或多个比特的数据；以及

所述发送码型发生器配置为在向所述半导体被测器件发送一个或多个第二比特的数据之前，等待从所述接收码型发生器接收信号。