[发明专利]用于处理源自电离辐射检测器的数据的方法

权利要求书

1.一种用于处理源自电磁或电离辐射的半导体检测器的数据的方法，所述检测器具有至少两个偏振电极，所述至少两个偏振电极在所述检测器的所述辐射的交互的影响下产生电信号，每个交互都能够基于对电信号的测量通过至少一个参数来表征，以确定事件的直方图，所述方法包括确定一组接受概率以及根据所述接受概率校正事件的直方图，其特征在于，通过双重校准来获得所述一组接受概率，其中，所述检测器被照射有关于事件的可接受标准不同的辐射。

2.根据权利要求1所述的用于处理数据的方法，其特征在于，事件(X)的接受概率P(S/X)根据辐射可接受标准(S)的概率来确定并等于其中，P(X/S)对应于第一校准中总是具有标准(S)的辐射的事件X的发生概率，P(S)对应于第二校准中标准(S)的概率，以及P(X)对应于所述第二校准中事件(X)的发生的概率。

3.根据权利要求1或2所述的用于处理数据的方法，其特征在于，通过将事件的所述直方图逐点乘以所述一组接受概率来校正事件的所述直方图。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于处理数据的方法，其特征在于，进一步包括估计满足标准(j)的检测射线的数量，通过使由对应于该标准的接受概率校正的所述直方图的点的值相加来获得该估计