[发明专利]用于监控随机偏振光的功率的组件无效
申请号: | 201080047054.3 | 申请日: | 2010-10-18 |
公开(公告)号: | CN102667426A | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 艾莱克伊·马米恩;弗拉基米尔·祖耶夫 | 申请(专利权)人: | IPG光子公司 |
主分类号: | G01J1/04 | 分类号: | G01J1/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 孙纪泉 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 监控 随机 偏振光 功率 组件 | ||
1.一种用于测量随机偏振光束的功率的装置,包括:
间隔开的第一分束器和第二分束器,所述第一分束器和所述第二分束器被配置成依次反射所述随机偏振光束的一部分,使得从所述第二分束器反射的输出光束具有与入射在所述第一分束器上的所述随机偏振光束的偏振状态无关的功率;以及
光学组件,其操作以探测所述输出光束并测量所述输出光束的与所述随机偏振光束的功率成比例的功率。
2.如权利要求1所述的装置,其中所述第一分束器和所述第二分束器相对于彼此定位成使得在所述第一分束器的部分反射的第一表面上的包括所述随机偏振光束的入射平面基本上与在所述第二分束器的部分反射的第二表面上的从所述第一表面反射的部分光的入射平面正交。
3.如权利要求2所述的装置,其中所述反射表面定位成使得所述随机偏振光束在所述第一分束器上的入射角(AOI)基本上等于所述随机偏振光束的从所述第一分束器反射并入射在所述第二分束器上的一部分的AOI。
4.如权利要求2所述的装置,其中所述反射表面定位成使得所述随机偏振光束在所述第一分束器上的入射角(AOI)不同于所述随机偏振光束的从所述第一分束器反射并入射在所述第二分束器上的一部分的AOI。
5.如权利要求2所述的装置,其中所述第一分束器和所述第二分束器各配置有反射系数Rs和Rp,其中所述Rs是具有正交于所述入射平面的矢量E的“s”偏振状态的反射系数,而所述Rp是具有位于所述入射平面中的矢量E的“p”偏振状态的反射系数,对于给定的入射角(AOI),所述第一分束器的所述Rs和Rp与所述第二分束器的相应Rs和Rp基本上相同。
6.如权利要求5所述的装置,其中所产生的所述输出光束的反射系数等于RsxRp,而不管所述随机偏振光是处于所述“s”偏振装置或“p”偏振状态。
6.如权利要求2所述的装置,其中各个所述第一分束器和第二分束器的反射表面每一个被抗反射涂层覆盖,所述抗反射涂层被配置成最小化要被监控的所述随机偏振光束的衰减。
7.如权利要求1所述的装置,还包括位于所述第二分束器和用于探测并测量所述输出光束的光学组件之间的体光学器件,所述体光学器件配置成削弱所述输出光束的功率,并简化所述光学组件的探测器在经两次反射的部分光的路径中的定位,所述探测器选自由负球面透镜和光散射器件所组成的组。
8.如权利要求6所述的装置,其中所述抗反射涂层配置成使得经两次反射的部分光被衰减,使得用于测量所述光功率的所述光学组件在线性状态中操作。
9.如权利要求1所述的装置,还包括:
另一第二板,其与所述第一分束器光通信,从而接收在与穿过所述第一分束器透射的所述随机偏振光束的方向相反的方向上传播的随机偏振回射光束,以及
另一光学组件,其设置成接收并测量与耦合到所述第一分束器中的所述回射光束的偏振状态无关的回射光束的功率。
10.如权利要求1所述的装置,还包括在所述第一分束器和所述第二分束器之间的偏振控制部件,所述偏振控制部件选自半波片和90°延迟器所组成的组。
11.一种尾纤式光隔离器,包括:
隔离器芯体,其被向前传播的随机偏振光束沿着光路穿过;以及
功率测量装置,其沿着所述芯体的第二段定位并包括:
间隔开的第一分束器和第二分束器,所述第一分束器和所述第二分束器配置成依次反射所述随机偏振光束的一部分,使得从所述第二分束器反射的输出光束具有与入射在所述第一分束器上的所述随机偏振光束的偏振状态无关的功率;以及
光学组件,其能够操作以探测所述输出光束并测量所述输出光束的与所述随机偏振光束的功率成比例的功率。
12.如权利要求11所述的光隔离器,还包括偏振控制部件,所述偏振控制部件位于所述第一分束器和第二分束器之间并选自半波片或90°延迟器。
13.如权利要求11所述的光隔离器,其中所述第一分束器和所述第二分束器相对于彼此定位成使得在所述第一分束器的部分反射的第一表面上的包括所述随机偏振光束的入射平面基本上与在所述第二分束器的部分反射的第二表面上的从所述第一表面反射的所述部分光的入射平面正交。
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