[发明专利]用于借助于激光三角法进行层厚度测量的方法和装置

权利要求书

1.用于确定待覆层的构件(1、120、130、155)的层厚度的方法，其中在覆层(II)之前(I)和期间或者之后(III)借助于激光三角法测量所述构件(1、120、130、155)，并且从所述构件(1、120、130、155)的不同的测量(V)中计算层厚度，其中考虑所述构件(1、120、130、155)的变形。

2.根据权利要求1所述的方法，其中层厚度测量仅局部地，尤其在一些点上执行。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中在所述构件(1、120、130、155)进行覆层之后执行所述激光三角测量。

4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其中在所述构件(1、120、130、155)进行覆层期间执行所述激光三角测量。

5.根据权利要求1、2、3或4所述的方法，其中在多个位置(13’、13”、......)上执行所述层厚度测量。

6.根据权利要求1、3或4所述的方法，其中大面积地执行所述层厚度测量。

7.根据权利要求1、2、3、4、5或6所述的方法，其中仅在进行覆层之前和仅在之后执行所述层厚度测量。

8.根据权利要求1、2、3、4、5、6或7所述的方法，其中使用在所述构件(1、120、130、155)上的至少一个参考点，以便确定叶片(120、130)的所述变形。

9.装置(10)，尤其用于执行根据权利要求1、2、3、4、5、6、7或8所述的方法，所述装置具有：

用于所述构件(1、120、130、155)的支架，

构件(1、120、130、155)，

其中所述支架或者所述构件(1、120、130、155)具有用于确定所述构件(1、120、130、155)的所述变形的参考点，

用于所述激光三角测量的传感器(4)，

运算单元(IV)，

所述运算单元在覆层(II)之前、期间或者之后获取所述构件(1、120、130、155)的不同的测量，并且实现在所述测量之间求差(V)，由此能够测定层厚度。