[发明专利]通过跟踪探针活动水平来控制性能状态无效

专利信息
申请号: 201080048873.X 申请日: 2010-11-05
公开(公告)号: CN102667665A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 亚历山大·布兰欧威;莫里斯·B·斯坦曼;乔纳森·D·奥克;乔纳森·M·欧文 申请(专利权)人: 超威半导体公司
主分类号: G06F1/32 分类号: G06F1/32;G06F12/08
代理公司: 上海胜康律师事务所 31263 代理人: 李献忠
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 通过 跟踪 探针 活动 水平 控制 性能 状态
【权利要求书】:

1.一种方法,其包括:

跟踪处理节点中的探针活动水平;将所述探针活动水平与第一阈值探针活动水平进行比较;以及

如果所述探针活动水平在所述第一阈值探针活动水平以上,将所述处理节点的性能状态提高至比当前性能状态高的第一性能状态。

2.如权利要求1中所述的方法,进一步包括:

在响应于所述探针活动水平在所述阈值探针活动水平以上而进入所述第一性能状态之后,当所述探针活动水平降至在所述第一阈值探针活动以下的预定水平以下时,进入比所述第一性能状态低的第二性能状态。

3.如权利要求2中所述的方法,进一步包括:当所述探针活动水平低于所述第一阈值减去磁滞因数时,进入所述第二性能状态。

4.如权利要求3中所述的方法,其中,所述第二性能状态为所述处理节点由此进入所述第一性能状态的性能状态。

5.如权利要求1至4中任一项所述的方法,其中,所述第一性能状态和所述第二性能状态由电压和频率中的至少一项限定。

6.如权利要求1至4中任一项所述的方法,进一步包括:

响应于所述探针活动水平提高至第二阈值探针活动水平以上而将所述处理节点的所述性能状态提高至第三性能状态,所述第二阈值探针活动水平比所述第一阈值探针活动水平高,并且其中,所述第三性能状态比所述第一性能状态高;以及

在响应于所述探针活动水平提高至所述第二阈值探针活动水平以上而将所述处理节点的所述性能状态提高至所述第三性能状态后,降低所述性能状态。

7.如权利要求1至4中任一项所述的方法,进一步包括:当所述处理节点处于比所述第一性能状态低的性能状态时,开始所述探针活动水平的所述跟踪。

8.如权利要求1至4中任一项所述的方法,其中,跟踪所述探针活动进一步包括:

每个探针请求进入队列,并且在所述处理节点通过数据移动和应答中的至少一项响应所述探针请求之后,所述探针请求从所述队列中退出;以及

将所述队列中的多个入口与所述第一阈值探针活动水平进行比较,以判定所述探针活动水平是否在所述第一阈值探针活动水平以上。

9.如权利要求1至4中任一项所述的方法,其中,跟踪所述探针活动进一步包括:响应于探针活动的发生而使表示探针活动水平的计数值增量,以及基于预定时间量的经过而使所述计数值减量。

10.一种装置,包括:

探针跟踪器,其跟踪处理节点中的探针活动水平;

其中,如果所述探针活动水平提高至第一阈值探针活动水平以上,则所述装置响应以将所述处理节点的性能状态从当前性能状态提高至第一性能状态;并且

其中,所述装置对所述探针活动水平下降至所述第一阈值探针活动水平以下预定水平作出响应以使所述处理节点进入低于所述第一性能状态的第二性能状态;并且

其中,所述第一和第二性能状态由电压和频率中的至少一项限定。

11.如权利要求10所述的装置,其中,所述装置进一步可操作以响应于所述探针活动水平提高至第二阈值探针活动水平以上而将所述处理节点的所述性能状态提高至第三性能状态,所述第二阈值探针活动水平比所述第一阈值探针活动水平高,并且其中,所述第三性能状态比所述第一性能状态高。

12.如权利要求10所述的装置,其中,所述探针跟踪器对所述节点处于所述第一性能状态以下的性能状态作出响应而开始所述探针活动水平的所述跟踪。

13.如权利要求10至12中的任一项所述的装置,其中,所述探针跟踪器进一步包括:

队列,探针请求进入所述队列中,在所述处理节点用数据移动和应答中的至少一项响应所述探针请求之后,所述队列中的所述探针请求从所述队列中退出;并且

其中,所述装置可操作以将所述队列中的入口数量与所述第一阈值探针活动水平进行比较以判定所述探针活动水平是否在第一阈值探针活动水平以上。

14.如权利要求10至12中的任一项所述的装置,其中,所述探针跟踪器包括计数器,所述计数器响应探针活动以增加表示探针活动水平的计数值并且响应预定时间段的经过而减少所述计数值。

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