[发明专利]输入装置以及其装置的触控位置侦测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种输入装置，尤其涉及一种在包含触控面板的输入装置中能够更精确地侦测触控位置的输入装置以及其触控位置侦测方法。

背景技术

个人计算机、便携式传输装置以及其它信息处理器等使用输入装置以执行各种功能。当前，作为输入装置，广泛使用具有触控面板的输入装置。

大致而言，触控面板是安装于诸如阴极射线管(cathode ray tube，CRT)、液晶显示器(liquid crystal display，LCD)、电浆显示面板(plasma display panel，PDP)、电致发光(electroluminescence，EL)等的显示装置的表面上，并以侦测据以接触的触控位置的装置。触控面板可由氧化铟锡(indium tin oxide，ITO)膜形成。

可组构此种具有触控面板的输入装置以使得使用者可藉由接触对象(例如，手指、手写笔等)来触碰该触控面板上的特定位置，并在屏幕上显示各种信息或使具备所述输入装置的设备执行输入装置的各种功能。然而，为了使输入装置小型化或在具有输入装置的设备中执行更多各种功能，可减小接触材料的接触区(诸如，图符(icons))。因此，在此状况下，应以更高精确度来测量该接触材料的触控位置。

发明内容

技术问题

为了解决上述问题及/或其它问题，本发明提供一种能够更精确地侦测触控位置的输入装置。

本发明的另一目的在于，提供一种能够实现上述目的的输入装置的触控位置侦测方法。

技术方案

本发明的上述及/或其它态样可藉由提供一种输入装置来达成，所述输入装置包含：触控面板，其经组态以视触控位置而产生多个不同测量值且输出所述多个测量值；丛集(clustering)部分，其经组态以接收所述测量值，且输出包含来自所述多个测量值的至少一丛集的使用临限值而丛集的测量值；以及中心点计算部分，其经组态以接收所述丛集的测量值，且使用加权平均来计算每一丛集的坐标以输出所述坐标。

在所述输入装置中，所述丛集可由所述测量值当中的大于所述临限值的测量值构成。

另外，所述丛集部分可接收所述测量值以侦测所述测量值的相对最大值的数目，且输出所述丛集的测量值，所述丛集的测量值包含与所述测量值中的所述相对最大值的所述数目相同的数目的丛集。

另外，所述触控面板可包含触控图案部分，所述触控图案部分包含：多个触控图案；以及测量部分，其经组态以将输入信号输出至所述多个触控图案当中的至少一触控图案，且接收经由所述多个触控图案当中的至少一触控图案而产生的输出信号以计算所述多个测量值。

根据本发明的所述输入装置的第一例示性实施例，所述触控图案部分可包含：安置于第一方向上的多个第一触控图案；以及安置于第二方向上的多个第二触控图案，所述第二方向垂直于所述第一方向，所述多个第一触控图案中的每一者可包含：安置于所述第二方向上的多个第一触控垫；以及经组态以连接所述多个第一触控垫的多个第一连接垫，且所述多个第二触控图案中的每一者可包含：安置于所述第一方向上的多个第二触控垫；以及经组态以连接所述多个第二触控垫的多个第二连接垫。

根据本发明的所述输入装置的第一例示性实施例，所述测量部分可将第一参考脉冲施加至所述第一触控图案中的每一者以作为所述输入信号，接收经由所述第一触控图案而产生的第一延迟脉冲以作为所述输出信号，并测量所述第一延迟脉冲与所述第一参考脉冲之间的延迟时间差以计算第一测量值；且可将第二参考脉冲施加至所述第二触控图案以作为所述输入信号，接收经由所述第二触控图案而产生的第二延迟脉冲以作为所述输出信号，测量所述第二延迟脉冲与所述第二参考脉冲的间的延迟时间差以计算第二测量值，并输出所述第一测量值及所述第二测量值以作为所述测量值。

根据本发明的所述输入装置的第一例示性实施例，所述丛集部分可输出丛集的第一测量值及丛集的第二测量值以作为所述丛集的测量值，所述丛集的第一测量值包含具有所述第一测量值当中的大于第一临限值的值的至少一第一丛集，所述丛集的第二测量值包含具有所述第二测量值当中的大于第二临限值的值的至少一第二丛集。

根据本发明的所述输入装置的第一例示性实施例，所述中心点计算部分可使用关于所述第一丛集中的每一者的加权平均而计算所述第一方向上的坐标，使用关于所述第二丛集中的每一者的加权平均而计算所述第二方向上的坐标，且组合所述第一方向与所述第二方向上的所述坐标以计算每一丛集的坐标并输出每一丛集的坐标。