[发明专利]被覆工具

权利要求书

1.一种被覆工具，其为包含基材及被覆于该基材的表面上的被膜的被覆工具，其特征在于，被膜的至少1层为α型氧化铝膜，α型氧化铝膜的平均膜厚为约0.5～约10μm，α型氧化铝膜内的α型氧化铝粒子的平均粒径为约0.5～约1.5μm，下述数学式1所示的α型氧化铝膜的(012)面的组织化系数TC_A(012)与下述数学式2所示的α型氧化铝膜的(104)面的组织化系数TC_A(104)满足TC_A(104)／TC_A(012)≥2.0；

[数学式1]

I_A(hkl)：α型氧化铝膜的(hkl)面测得的X射线衍射强度

I_A0(hkl)：利用JCPDS卡号10-173测定的α型氧化铝的(hkl)面的标准X射线衍射强度

(hkl)：(012)、(104)、(110)、(113)、(024)、(116)、(124)、(030)这8个面

[数学式2]

I_A(hkl)：α型氧化铝膜的(hkl)面测得的X射线衍射强度

I_A0(hkl)：利用JCPDS卡号10-173测定的α型氧化铝的(hkl)面的标准X射线衍射强度

(hkl)：(012)、(104)、(110)、(113)、(024)、(116)、(124)、(030)这8个面。

2.根据权利要求1所述的被覆工具，其中，α型氧化铝膜为柱状晶体。

3.根据权利要求1或2所述的被覆工具，其中，被膜由α型氧化铝膜单独构成、或者由Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Al、Si的碳化物、氮化物、氧化物、碳氮化物、碳氧化物、氮氧化物、碳氮氧化物、硼化物以及它们的相互固溶体的1种或2种以上的金属化合物膜和α型氧化铝膜构成。

4.根据权利要求1～3的任一项所述的被覆工具，其中，TC_A(104)／TC_A(012)为4.0以上。

5.根据权利要求1～3的任一项所述的被覆工具，其中，TC_A(104)／TC_A(012)为6.0以上。

6.根据权利要求1～5的任一项所述的被覆工具，其中，在基材与α型氧化铝膜之间具有B1型金属化合物膜，B1型金属化合物膜内的B1型金属化合物粒子的平均粒径为约0.15～约0.3μm，B1型金属化合物膜内的B1型金属化合物粒子的最大粒径为约1.0μm以下，下述数学式3所示的B1型金属化合物膜的(422)面的组织化系数TC_B(422)和下述数学式4所示的B1型金属化合物膜的(311)面的组织化系数TC_B(311)满足TC_B(422)／TC_B(311)≥1.5；

[数学式3]

I_B(hkl)：B1型金属化合物膜的(hkl)面测得的X射线衍射强度

I_B0(hkl)：利用JCPDS卡号32-1383测定的TiC的(hkl)面的标准X射线衍射强度与利用JCPDS卡号38-1420测定的TiN的(hkl)面的标准X射线衍射强度的平均值

(hkl)：(111)、(220)、(200)、(311)、(331)、(420)、(422)、(511)这8个面

[数学式4]

I_B(hkl)：B1型金属化合物膜的(hkl)面测得的X射线衍射强度

I_B0(hkl)：利用JCPDS卡号32-1383测定的TiC的(hkl)面的标准X射线衍射强度与利用JCPDS卡号38-1420测定的TiN的(hkl)面的标准X射线衍射强度的平均值

(hkl)：(111)、(220)、(200)、(311)、(331)、(420)、(422)、(511)这8个面

7.根据权利要求6所述的被覆工具，其中，B1型金属化合物膜为柱状晶体。