[发明专利]用于检测未成洞早期龋损的装置

说明书

技术领域

本发明总体上涉及龋损的检测。更具体地，本发明涉及用于检测未成洞早期龋损的电装置和方法。

背景技术

龋齿是牙齿在口腔中萌出不久之后经常发生的疾病，并且是对大多数人的牙齿总体上不利的状况。特别易于龋齿发展的位置是后牙的咬合面。这在很大程度上是因为这些表面具有有利于发酵性糖类和细菌生物膜滞留的形态（即，点隙、裂沟以及窝）。这两种实体是龋齿原因中的主要元素。它们组合起来导致引起牙齿脱矿以及龋损的开始和发展的酸的产生。与人类齿系中的其它地方相比，更多的蛀牙在咬合位置以及在较少程度上在邻间齿系位置（牙齿在这里相互接触）发生。这是因为，细菌和发酵性糖类更容易在此处聚集，并且与其他多数可接触到唾液的齿系位置相比，该处的细菌和发酵性糖类受到了能够抑制唾液效果的龋齿的保护。

龋齿开始为脱矿过程，脱矿过程导致了穿过保护性非导电性牙釉质的孔和洞的发展（Longbottom C.和Huysmans M.C.D.N.J.M.E，龋齿研究期刊29，94-99，1995。Longbottom C.和Huysman s M.C.D.N.J.M.用于使用在龋齿临床试验中的电气测量J.Dent.Res 83（C特刊）C76-C79，2004）。继续脱矿最终导致牙釉质开裂。一旦牙釉质开裂，龋齿会快速地发展和扩散穿过下面的牙本质，牙本质是比牙釉质矿化少很多的组织。因为牙本质被许多小管穿过，所以这种扩散变得容易。尤其是较年轻牙齿中，这些牙本质小管中即使不是大多数也有很多牙本质小管一直延伸到牙髓（Pashley D.H.牙本质敏感性的理论J.Clin.D ent.5：65-67，1994）.

人类难以对特别是后牙的点隙、裂沟以及窝中的未成洞龋损进行检测和评估。主要涉及的牙齿包括恒齿系的第一和第二主臼齿、前臼齿以及臼齿。这些牙齿和邻间齿系位置是大多数牙洞发生的地方。

目前，龋齿发展的检测主要由牙医或其它牙齿保健提供者利用通常称为牙齿探测器的简单拾取式装置进行。该检测通过视觉检查矿物损失的显示来执行，并且在利用或不利用x射线的情况下进行。甚至有龋齿穿透到牙本质中，这些工具中也没有一个适合于高百分比地检测未成洞咬合龋损。这些早期发展龋损中有许多龋损尚未成洞，但是涉及到穿过牙釉质的广泛隧穿，并且该成隧穿可能不可检测。该龋齿发展经常难以发现直到牙质的破坏变得更显著并且逐渐地越来越多地涉及牙本质。由于发现困难，因此这些病损通常称为隐藏龋齿（Weerheijm KL，van Amerongen WE和Eggink CO.咬合龋齿的临床诊断：Aproblem.J.Dent.Child.56，196-200，1989）。它们的早期发现通常被错过或涉及许多不确定。不出所料，存在牙髓损害发生和牙齿不必要地损失的机会（Verdonschot E.H.，Wenzel A.，Truin G.J.和Konig K.G.咬合龋齿的早期诊断中的附属于视觉检查的电阻测量的性能，J.Dent.21：332-337，1993）。讽刺的是，防龋剂氟化物可能不利于早期检测，这是因为防龋剂氟化物有利于少量成洞（Hudson P.和Kutsch V.K.微创牙科（microdentistry）：当前点隙和裂沟龋齿管理Comp endium 22：469-483，2001）。这是因为氟化物使覆盖牙本质的牙釉质的可溶性降低，由此使牙釉质能够大部分保持完整，而下面的牙本质继续脱矿（LussiA.，Firestone A.，Schoenberg V.，HotzP.和Stich H.利用新电阻监测器的裂沟龋齿的活体诊断Caries Res.29：81-87，1995）。为此，非常重要的是尽可能早且容易地检测龋损。

因为刚萌出的牙齿的牙釉质通常显示一定程度的多孔性，所以与如果它们已经在不会生成洞和矿化的条件下在口中暴露了持续的一段时间相比，该刚萌出的牙质更易于龋齿发展。这种持续一段时间的改进称为成熟，并且由于这些暴露牙齿中的许多暴露牙齿需要来自与多种蛋白质积累一起的唾液获得的钙和磷酸盐离子而发生。这些改变涉及牙釉质矿化增加、牙釉质渗透性减小以及龋齿阻力更大。如果在牙齿成熟过程中施加氟化物或自然地吸收氟化物，则这是有帮助的（Ie Y.L.，Verdonschot E.H.，Schaeken M.J.M和vant Hof M.A.与龋齿状态有关的最新萌出的臼齿中的裂沟牙釉质的电导Caries Res.29：94-99，1995）。与此相反，在存在脱矿环境的有龋齿倾向的口中，更容易发生相反结果，即，增大的孔隙度和成洞的发展。