[发明专利]半导体器件有效
申请号: | 201080050573.5 | 申请日: | 2010-10-12 |
公开(公告)号: | CN102598269A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 小山润;山崎舜平 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/374 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张欣 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
1.一种半导体器件,包括:
在含有硅半导体的衬底上的像素部分,所述像素部分包括:
掩埋于所述衬底中的光电转换元件部分;
电连接至所述光电转换元件部分的转移晶体管;
电连接至所述转移晶体管的信号电荷存储部分;
电连接至所述信号电荷存储部分的重置晶体管;
电连接至所述信号电荷存储部分的放大器晶体管;且
其中所述转移晶体管的沟道形成区和所述重置晶体管的沟道形成区包括氧化物半导体,且所述放大器晶体管的沟道形成区包括所述硅半导体。
2.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述转移晶体管或所述重置晶体管被形成在所述放大器晶体管上。
3.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述转移晶体管和所述重置晶体管的每一个的截止态电流是1×10-13A或更少。
4.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述氧化物半导体中的载流子浓度为小于1×1014A/cm3。
5.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述像素部分电连接至含有互补晶体管的外围电路部分,该互补晶体管在沟道形成区具有硅半导体。
6.如权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,信号电荷存储部分包括绝缘层作为介电质。
7.一种包括如权利要求1所述的半导体器件的电子设备。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的