[发明专利]用于估定地下地层中温度的方法有效
| 申请号： | 201080052180.8 | 申请日： | 2010-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN102612640A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | D·阿罗拉;R·M·巴斯;D·B·伯恩斯;E·E·德圣里米;E·A·格苏阿尔迪;S·V·源;S·T·汤普森 | 申请（专利权）人： | 国际壳牌研究有限公司 |
| 主分类号： | G01K13/00 | 分类号： | G01K13/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 王会卿 |
| 地址： | 荷兰*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 地下 地层 温度 方法 | ||
1.一种用于估定地下地层中开口内的温度的方法，所述方法包括：
沿着位于开口中的绝缘导体的长度估定一个或多个介电特性；以及
基于所估定的一个或多个介电特性而沿着绝缘导体的所述长度估定一个或多个温度。
2.如权利要求1所述的方法，所述方法还包括：将电力提供给绝缘导体的至少一部分，以及从绝缘导体的所述至少一部分将至少一些热量提供给地下地层。
3.如权利要求1所述的方法，所述方法还包括：将电力提供给位于开口中的至少一个附加的绝缘导体，以及从所述附加的绝缘导体将至少一些热量提供给地下地层。
4.如权利要求1所述的方法，其中，估定一个或多个温度包括将介电特性的温度相关性数据与所估定的介电特性进行比较。
5.如权利要求1所述的方法，其中，介电特性中的至少一个包括介电常数。
6.如权利要求1所述的方法，其中介电特性中的至少一个包括损耗角正切。
7.如权利要求1所述的方法，其中，所估定的一个或多个温度处于大约400℃以上。
8.如权利要求1所述的方法，其中所估定的一个或多个温度处于大约400℃至大约900℃之间的范围内。
9.如权利要求1所述的方法，其中，所估定的一个或多个温度分布在沿着绝缘导体长度的不同位置处。
10.如权利要求1所述的方法，所述方法还包括使用计算系统估定所述一个或多个温度，所述计算系统构造为存储介电特性的温度相关性数据。
11.如权利要求1所述的方法，其中，被估定的绝缘导体长度至多包括所述绝缘导体的上半部。
12.如权利要求1所述的方法，其中，所述绝缘导体包括芯、围绕所述芯的绝缘材料和围绕所述绝缘材料的外护套。
13.如权利要求1所述的方法，其中，所述绝缘导体包括具有沿着所述绝缘导体长度而改变的性质的绝缘材料。
14.一种用于估定地下地层中开口内的温度的方法，所述方法包括估定开口中加热器的一个或多个介电特性。
15.一种用于估定地下地层中开口内的温度的系统，所述系统包括具有一个或多个介电特性的绝缘导体。
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