[发明专利]改进分类性能的群集分析系统和方法有效

专利信息
申请号: 201080052346.6 申请日: 2010-11-15
公开(公告)号: CN102725631A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 卢卡斯·R·米勒 申请(专利权)人: 伊利诺斯工具制品有限公司
主分类号: G01N29/44 分类号: G01N29/44;B07C5/34;G01H1/00;G01H13/00;G01H17/00;G06K9/00;G07C3/14
代理公司: 上海脱颖律师事务所 31259 代理人: 脱颖;杨宇宙
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 改进 分类 性能 群集 分析 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于分类未知部件的方法,所述方法包括:

获取针对在部件的训练集中的多个部件的宽带频率响应,所述部件的训练集包括多个无缺陷部件和多个缺陷部件;

在所述宽带频率响应上进行统计分析以形成多个部件子集,所述多个部件子集包括至少一个无缺陷部件的子集和至少一个缺陷部件的子集;以及

利用所述多个部件子集来形成部件的混合子集,所述部件的混合子集被用于将未知部件分类为缺陷部件或无缺陷部件。

2.根据权利要求1所述的方法,包括:

将所述宽带信号堆叠;以及

从每个宽带信号中选择多个共振峰值以进行所述统计分析。

3.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:

将所述宽带信号堆叠;

识别塔器,所述塔器代表频率响应,所述频率响应在多个宽带信号之中是共同的;以及

在所述被识别的塔器上进行统计分析。

4.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:在所述宽带频率响应上进行所述统计分析以形成多个部件子集,所述多个子集包括缺陷部件的第一子集和缺陷部件的第二子集,所述第一子集包括具有第一缺陷类型的部件,且所述第二子集包括具有不同的第二缺陷类型的部件。

5.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:在所述宽带频率响应上进行所述统计分析以形成多个部件子集,所述多个子集包括第一缺陷部件子集和第二缺陷部件子集,所述第一子集包括具有裂缝的部件且所述第二子集包括具有规格缺陷的部件。

6.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:在所述宽带频率响应上进行所述统计分析以形成多个部件子集,所述多个子集包括无缺陷部件的第一子集和无缺陷部件的第二子集,所述第一子集包括具有第一物理特征的部件,且所述第二子集包括具有不同的第二物理特征的部件。

7.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:利用所述多个部件子集以形成部件的混合子集,所述部件的混合子集包括从无缺陷部件子集获取的多个共振频率,以及从缺陷部件的子集获取的多个共振频率。

8.根据权利要求1所述的方法,其中为了形成所述多个子集,所述方法进一步包括:

形成第一子集以包括无缺陷部件;

形成第二子集以包括无缺陷部件;

根据所述部件与所述两个无缺陷部件子集的每一个的中心的距离来给每个在所述训练集中的无缺陷部件分配等级;以及

根据所述分配的等级,将每个无缺陷部件分配到所述第一子集或所述第二子集。

9.根据权利要求1所述的方法,其中为了形成所述多个子集,所述方法进一步包括:

形成第一子集以包括缺陷部件;

形成第二子集以包括缺陷部件;

根据所述部件与所述两个无缺陷部件子集的每一个的中心的距离来给每个在所述训练集中的缺陷部件分配等级;以及

根据所述分配的等级,将每个缺陷部件分配到所述第一子集或所述第二子集。

10.根据权利要求1所述的方法,其中进行所述统计分析,所述统计分析包括测量在每个宽带信号中的两个共振响应之间的频率差异。

11.一种确定未知部件是缺陷部件还是无缺陷部件的方法,所述方法包括:

获取针对在部件的训练集中的每个部件的宽带频率响应,所述部件的训练集包括多个无缺陷部和多个缺陷部件;识别塔器,所述塔器表示频率响应,所述频率响应在所述多个宽带信号之间是相同的;

在所述识别的塔器上进行统计分析,以形成多个部件子集;以及

利用所述多个部件子集以将未知部件分类为缺陷部件或无缺陷部件。

12.根据权利要求11所述的方法,其进一步包括在所述宽带频率响应上进行统计分析,以形成多个部件子集,所述多个部件子集包括至少一个无缺陷部件的子集和至少一个缺陷部件的子集。

13.根据权利要求11所述的方法,其进一步包括利用所述多个部件子集来形成部件的混合子集,所述部件的混合子集被用于将未知部件分类为缺陷部件或无缺陷部件。

14.根据权利要求11所述的方法,其进一步包括:

堆叠所述宽带信号;以及

从每个宽带信号中选择多个共振峰值,以进行所述统计分析。

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