[发明专利]齿轮测定方法

说明书

技术领域

本发明涉及对齿轮的齿形、齿向进行测定的齿轮测定方法。

背景技术

齿轮加工机中包括通过切削加工来制造齿轮的插齿机、滚齿机、对淬火后的齿轮进行磨削的齿轮磨床等。

在利用这种齿轮加工机对齿轮进行加工时，对于从加工完的批次中脱离的至少1个齿轮，利用齿轮测定装置进行了齿形、齿向等的齿轮测定之后，确认其加工精度，在加工精度良好时，继续利用齿轮加工机加工其余的未加工批次，在加工精度不良时，修整齿轮加工机的加工精度，之后加工其余的未加工批次。另外，在齿轮为大型的情况下，无法排出不良品，因此残留有加工余量，并反复多次由齿轮加工机进行的齿轮加工和由齿轮测定装置进行的齿轮测定，在确认了最终的精度之后，进行精加工。

以前的齿轮测定装置通常与齿轮加工机分体，但这种情况下，需要将加工后的齿轮从齿轮加工机向齿轮测定装置换上的作业。相对于此，近年来，以省去齿轮的更换作业而实现作业性的提高为目的，提出了各种一体地具备齿轮测定装置的齿轮加工机。

另一方面，在齿轮测定装置中使用的测定探针中包括连续扫描式探针和触碰式探针。连续扫描式探针是模拟式的测定探针，测头连续地与齿轮的齿面接触并移动，基于此时的测头的位移量来进行齿面测定。相对于此，触碰式探针是数字式（接通/断开式）的测定探针。与连续扫描式探针相比，触碰式探针的耐湿性、耐尘性等的耐环境性优异，因此在将齿轮测定装置设置于齿轮加工机上时特别有用。另外，与连续扫描式探针相比，触碰式探针廉价，因此从齿轮加工机的成本减少的观点出发非常有用。

基于图11进行说明时，触碰式探针1通常将测头2保持成图中实线所示的状态。该触碰式探针1的测头2接近箭头A那样的齿轮3的齿面3a，如图11中的点划线所示，与齿面3a抵接，当位移了预行程量Δ（例如几十μm左右）时，触碰式探针1成为接通（内部的开关为a接点的情况，在为b接点的情况下为断开）。并且，基于该接通（或断开）时的各驱动轴的坐标等，来测定齿形、齿向。

因此，在测定下一个测定点时，需要使测头2如箭头B那样向离开齿面3a的方向移动，或者使齿面3a向离开测头2的方向移动，使触碰式探针1暂时断开（内部的开关为a接点的情况，在为b接点的情况下为接通）。

基于图12进行说明时，例如测定齿面3a的测定点P1~P4时，首先，使触碰式探针1沿着X轴方向移动而将测头2安放在与第一个测定点P1对应的位置上之后，使测头2向Y轴方向移动或使齿轮3绕C轴（齿轮3的旋转中心）旋转，由此如箭头A那样使测头2接近齿面3a，与测定点P1抵接而使触碰式探针1接通（这里说明a接点的情况）。接下来，通过使测头2向Y轴的反方向移动或使齿轮3绕C轴反向旋转，而如箭头B那样使测头2离开齿面3a而使触碰式探针1断开，向原来的安放位置返回。然后，使测头2沿着X轴方向如箭头D那样移动而安放在与第二个测定点P2对应的位置。这以后，对于测定点P2~P4反复进行同样的动作。

【在先技术文献】

【专利文献】

【专利文献1】日本特开平05-111851号公报

发明内容

如上所述，在以往的齿轮测定方法中，需要按照各测定点反复进行将测头2安放在与测定点对应的位置，使测头2向测定点（齿面）抵接而使触碰式探针1接通，使测头2从测定点（齿面）离开而使触碰式探针1断开这样的断续的动作，因此花费测定时间。而且，为了缩短测定点的间隔来提高测定精度，而需要增加测定点数，但当增加测定点数时，需要大量的测定时间。即，测定点数（测定精度）和测定时间成为需要权衡的关系。

因此，本发明鉴于上述的情况，其课题在于提供一种能够使用触碰式探针连续地测定多个测定点（多点式连续测定）且与现有的方法相比能够缩短测定时间的齿轮测定方法。

解决上述课题的第一方面的齿轮测定方法使用触碰式探针进行齿轮的齿形或齿向的测定，其特征在于，

进行基本动作，该基本动作用于控制所述测头的移动及所述齿轮的旋转而使所述触碰式探针的测头沿着所述齿轮的理想齿形线或通过运算求出的齿形线移动，或者，用于控制所述测头的移动及所述齿轮的旋转或控制所述测头的移动而使所述触碰式探针的测头沿着所述齿轮的理想齿向线或通过运算求出的齿向线移动，