[发明专利]用于检测和校正图像传感器中的缺陷像素的系统和方法

权利要求书

1.一种在图像处理过程中检测和校正缺陷图像像素的方法，包括：

使用图像处理器进行以下操作：

接收利用图像传感器获取的图像数据的输入像素；

将输入像素在图像传感器的成像帧的处理区域内的位置与存储在静态缺陷表中的一组位置条目进行比较；

如果输入像素的位置对应于所述一组位置条目之一，则将输入像素标记为静态缺陷，并确定用于输入像素的第一替代值；

如果输入像素的位置不对应于所述一组位置条目之一，则识别与输入像素具有相同颜色分量的一组邻近像素，确定输入像素相对于所述一组邻近像素是否为动态缺陷或有斑点，并且如果输入像素被确定为动态缺陷或有斑点，则确定用于输入像素的第二替代值；以及

校正输入像素，其中校正输入像素包括：

如果输入像素被标记为静态缺陷，用第一替代值代替输入像素的当前值；以及

如果输入像素被确定为动态缺陷或有斑点，用第二替代值代替输入像素的当前值。

2.如权利要求1所述的方法，包括：如果输入像素未被标记为静态缺陷并且未被确定为动态缺陷或有斑点，则不校正输入像素。

3.如权利要求1所述的方法，其中第一替代值被确定为按照扫描顺序具有相同颜色的前一像素的值。

4.如权利要求1所述的方法，其中识别一组邻近像素包括：确定输入像素的颜色，并识别成像帧中具有相同颜色的八个最接近的邻近像素，其中这八个邻近像素形成3×3像素块；并且

其中确定输入像素相对于所述一组邻近像素是否为动态缺陷或有斑点是基于所计算的位于处理区域内的每个所述邻近像素相对于输入像素的一组方向性像素至像素梯度。

5.如权利要求4所述的方法，其中确定输入像素是否为动态缺陷包括：

将所述梯度中的每一个与自适应动态缺陷阈值相比较；

基于所述比较，对小于或等于该自适应缺陷阈值的梯度的数量进行计数；

将该计数与最大值相比较，其中该最大值是至少部分基于位于处理区域内的邻近像素的数量来选择的；以及

如果该计数小于或等于该最大值，则将输入像素识别为动态缺陷。

6.如权利要求5所述的方法，其中所述自适应动态缺陷阈值包括：

针对图像传感器的每一个颜色分量的固定分量；

至少部分基于在输入像素被捕捉时图像传感器的曝光设置或积分时间设置之一而确定的动态分量；以及

基于处理区域内所述邻近像素的平均值与处理区域内每个邻近像素的值之间的绝对差之和而计算的高频分量；

其中，通过对动态分量和高频分量的乘积与跟输入像素的颜色相对应的固定分量求和，来计算所述自适应动态缺陷阈值。

7.如权利要求4所述的方法，其中确定输入像素是否有斑点包括：

通过计算输入像素的值与处理区域内各邻近像素的平均值之差，来确定平均梯度值；

将该平均梯度值与自适应斑点阈值相比较；以及

如果该平均梯度值大于自适应斑点阈值，则将输入像素识别为有斑点。

8.如权利要求7所述的方法，其中所述自适应斑点阈值包括：

针对图像传感器的每一个颜色分量的固定分量；

至少部分基于输入像素和所述邻近像素的纹理程度而确定的动态分量；以及

基于处理区域内所述邻近像素的平均值与处理区域内每个邻近像素的值之间的绝对差之和而计算的高频分量；

其中，通过对动态分量和高频分量的乘积与跟输入像素的颜色相对应的固定分量求和，来计算所述自适应斑点阈值。