[发明专利]传输路径推定方法、程序以及装置

说明书

技术领域

本发明涉及传输路径推定方法、程序以及装置。

尤其，本发明涉及在使用几何光学模型的GO或GTD等的分析或使用光线跟踪分析或成像法的分析中，对不进行镜面反射的散射体进行分析的方法。

背景技术

以前，作为分析电波的传输特性的方法，已知使用几何光学模型的分析方法（例如，参照非专利文献1）。

图1中表示基于现有的光线跟踪法求出电波的传输路径（路线）的方法。

如图1所示，在现有的光线跟踪法中，第一，求出与发送点T的壁面相对应的成像点T’，然后求出与成像点T’的壁面2相对应的成像点T”。

第二，用直线连接T”和接收点R，求出这样的直线与壁面2的交点。这样的交点成为壁面2中的反射点X2。

第三，用直线连接壁面2中的反射点X2和T’，能够求出壁面1中的反射点X1。

此时，传输距离成为与连接T”和接收点R的直线的长度相同的值。能够使用该传输距离来求出接收点R的电场强度。

此外，在图2中表示求出关于现有的透过波以及反射波的传输路径（路线）的方法（例如，参照非专利文献2）。

此外，在专利文献1中，公开了推定透过方向并不限于直线传输方向、且反射方向并不限于镜面反射方向的情形时的传输特性的方法。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开第2009－168534号公报

非专利文献1：細矢良雄監修、「電波伝搬ハンドブツク」、234～245頁、リアライズインク社

非专利文献2：「EEM-RTM理論説明書」、(株)情報数理研究所、http://www.imslab.co.jp/Rroduct/eem/doc/rtm_theory.pdf

非专利文献3：L.Li,Q.Chen,Q.Yuan,K.Sawaya,T.Maruyama,T.Furuno and S.Uebayashi:“Microstrip Reflectarray Using Crossed-Dipole with Frequency Selective Surface of Loops,”ISAP2008,TP-C05,1645278,2008

非专利文献4：T.Maruyama,T.Furuno and S.Uebayashi:“Experiment and Analysis of Reflect Beam Direction Control using a Reflector having Periodic Tapered Mushroom-like Structure,”ISAP2008,MO-IS1,1644929,p.9,2008

发明内容

但是，在上述方法中，如图1以及图2所示，反射波的行进方向局限于镜面反射方向（正规反射方向），此外透过波的行进方向限于传输直线前进方向。

从而，在上述的方法中不能考虑到向镜面反射方向以外的方向散射时的传输特性以及介质的折射地进行传输特性的分析。

图3中表示向镜面反射方向以外的方向散射时的传输路径的例子。

在图3中，壁面3以及壁面4分别是方向控制散射体，反射波向与镜面反射方向不同的方向散射，在壁面3从入射方向A1°的方向入射的电波，在反射点×3向反射方向A2°的方向散射，在壁面4，从入射方向B1°的方向入射的电波在反射点×4向反射方向B2°的方向散射。

与此相对，当以现有的成像法求出路径时，在壁面4中的反射点成为×2，成为与反射点×4不同的地方。即、通过现有的图1的方法不能求出壁面4中的反射点。从而，对于方向控制反射板，散射波不沿着镜面反射方向，因此存在不能通过现有的成像法来计算出使用镜像的传输路径的问题点。

另一方面，报告了近年来用于改善传输环境的应用反射阵列或超颖材料来作为传输方向控制散射体的例子（非专利文献3、4），

对在发送点T和接收点R之间的电波的传输路径（路线）的途中存在这样的方向控制散射体时的电波的传输特性进行分析，在分析传输环境的改善效果的方面显得重要，但很难用以前的光线跟踪的方法进行这样的分析。

另一方面，根据专利文献1的方法，通过利用求出路线并删除路线的算法，能够推定传输路径，但无法只通过分析前的构造预先推定。因此，有计算次数增加的缺点。

因此，本发明是鉴于上述的课题而提出的，其目的在于：提供一种传输路径推定方法、程序以及方法，能够推定包含有方向控制散射体的传输分析模型中的传输路径，并进行光线跟踪分析或应用了几何光学模型的分析传输。