[发明专利]用于微分相衬成像的扫描系统有效

专利信息
申请号: 201080055835.7 申请日: 2010-12-08
公开(公告)号: CN102651998A 公开(公告)日: 2012-08-29
发明(设计)人: K·J·恩格尔;D·格勒;G·福格特米尔;T·克勒 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 黄云铎;陈松涛
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 微分 成像 扫描 系统
【权利要求书】:

1.一种用于对对象(18)成像的X射线设备,包括:

X射线发射器装置(12),

X射线检测器装置(14),

其中,所述X射线发射器装置(12)适于发射X射线束(16)通过所述对象(18)到所述X射线检测器装置(14)上,

其中,所述X射线束(16)是至少部分空间相干的,

其中,所述X射线束(16)是扇形的,

其中,所述X射线检测器装置(14)包括相位光栅(50)及吸收体光栅(52),

其中,所述X射线检测器装置(14)包括用于检测X射线的检测器(54),

其中,所述X射线检测器是面检测器(54),

其中,所述X射线设备适于从所检测到的X射线产生图像数据并且适于从所述X射线图像数据提取相位信息,所述相位信息与由所述对象(18)导致的X射线的相移相关,

其中,所述对象(18)具有大于所述X射线检测器(18)的检测面的感兴趣区域(32),并且所述X射线设备适于通过对所述对象(18)和所述X射线检测器装置(14)相对彼此进行移动来产生所述感兴趣区域(32)的图像数据。

2.根据权利要求1所述的X射线设备,

其中,所述X射线发射器装置(12)包括具有X射线发射器线(48)的X射线源,所述X射线源适于产生所述扇形的至少部分空间相干的X射线束(16),

其中,所述X射线发射器线(48)包括具有碳纳米管(44)的阴极(42)。

3.根据权利要求1或2所述的X射线设备,

其中,所述X射线设备适于在垂直于所述扇形的X射线束(16)的轴向方向(A)对所述对象(18)和所述X射线检测器装置(14)相对彼此进行移动。

4.根据前述权利要求中的一项所述的X射线设备,包括:

用于相对于所述X射线发射器装置(12)和所述X射线检测器装置(14)移动所述对象(18)的致动器(20);以及/或者

用于相对于所述对象移动所述X射线检测器装置的致动器(62、66);以及/或者

用于绕所述对象移动所述X射线发射器装置和/或所述X射线检测器装置的致动器(66)。

5.根据前述权利要求中的一项所述的X射线设备,

其中,所述X射线设备适于:在所述对象、所述X射线发射器装置(12)和/或所述X射线检测器装置(14)相对彼此移动时,移动所述相位光栅(50)、所述吸收体光栅(52)以及源光栅(36)中的至少一个光栅,使得所述至少一个光栅相对于所述对象(18)保持固定。

6.根据前述权利要求中的一项所述的X射线设备(310),

其中,所述X射线发射器装置(312)包括具有可切换的发射器线(48)的X射线源,

其中,所述X射线发射器装置(312)在运动方向上大于所述X射线检测器装置(14),

其中,所述X射线设备适于切换所述发射器线(48),使得仅与所述X射线检测器装置(14)相对的发射器线被打开。

7.根据前述权利要求中的一项所述的X射线设备,

其中,所述X射线设备适于在第一扫描步骤期间分析在所述X射线检测器装置(14)处的X射线的X射线强度。

8.根据权利要求7所述的X射线设备,

其中,所述X射线设备(10)适于基于所分析出的所述第一扫描步骤的X射线强度设置针对第二扫描步骤由所述X射线发射器装置(14)发射的X射线的强度。

9.根据权利要求7或8所述的X射线设备,

其中,所述X射线设备适于基于所分析出的所述第一扫描步骤的X射线强度设置第二扫描步骤的扫描速度。

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