[发明专利]毫米波成像设备、毫米波成像系统和程序

说明书

对相关申请的交叉引用

本国际申请要求于2009年12月15日在日本专利局提交的日本专利申请号2009-284080的权益，该日本专利申请号2009-284080的全文通过引用而并入本文。

技术领域

本发明涉及一种毫米波成像设备，其接收物体放射的毫米波并且获取该物体的图像。

背景技术

近来，已提出，接收物体例如人体放射的毫米波，从而对该物体成像并且从获取的图像探测该物体上隐藏的金属/非金属武器或者走私货物（参见专利文献1、2）。

在这类技术中，物体图像利用环境生成，其中，被指定为该物体的人体区域与其他区域中放射的毫米波的信号电平是不同的，以便根据对应于各信号电平获得的成分值（例如，色调、亮度、饱和度，等等）排列示出的像素。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：未审查的日本专利公开号2006-258496

专利文献2：日本专利号2788519

发明内容

本发明要解决的技术问题

在其中物体图像如上所述通过使用多个毫米波传感器生成的毫米波成像设备中，当被指定为观察目标的观察区域中的温度变化时，该图像中像素之间的对比度不能被适当地保持，并且，在一些情况下不能获得清晰的图像。

例如，在观察区域中的温度增加的情况下，以热噪声的形式放射的毫米波的信号电平变大，从而，来自各个毫米波传感器的探测值类似地变大。在这种情况下，当温度增加至某种程度时，来自各个毫米波传感器的探测值也变大，并且，根据这些探测值确定的各个像素成分全部变成最大（或者最小）值。因此，该图像中像素之间的对比度不能被保持。

本发明正是为了解决这一问题。本发明的目的是提供一种技术以便生成其中不论观察区域中的温度变化如何，像素之间的对比度被适当地保持的物体图像。

解决技术问题的手段

用于解决上述技术问题的本发明的第一方面提供一种毫米波成像设备，包括：透镜天线，关于所述观察区域，所述透镜天线捕获毫米波并且形成物体图像，所述毫米波从观察区域放射，所述观察区域是被指定为观察目标的区域，并且在所述观察区域的一部分中布置有放射被指定为基准的所述毫米波的放射体；毫米波传感器组，其由一个以上的毫米波传感器组成，被置于其中所述透镜天线所捕获的所述毫米波形成所述物体图像的图像形成区域中，并且，所述毫米波传感器中的每一个输出对应于由此接收的所述毫米波的信号电平的探测值；图像形成装置，其生成所述物体图像，所述物体图像基于从所述一个以上的毫米波传感器输出的每一个所述探测值，并且通过配置对应于所述探测值的成分的像素而形成；校正值设置装置，其设置对于所述各个毫米波传感器的校正值，所述校正值为所述一个以上的毫米波传感器中被指定为接收从所述放射体放射的所述毫米波的基准毫米波传感器所探测的探测值与预定的基准探测值之间的误差；以及探测值校正装置，在由所述图像形成装置实施的所述物体图像的形成之前，其通过所述校正值设置装置所设置的所述校正值校正由所述一个以上的毫米波传感器中的每一个探测的所述探测值。

在该结构中，为了校正所述一个以上的毫米波传感器的各个探测值，由于所述校正值为所述基准毫米波传感器的所述探测值与所述基准探测值之间的所述误差，所述校正值被增加至所述探测值或者从所述探测值减去以便消除所述误差。

此外，该结构中的“基准探测值”优选为当热噪声极小时设置的基准毫米波传感器的探测值。在这种情况下，在像素之间的对比度被适当地保持的状态下获得的所述探测值变成“基准探测值”。

此外，该“基准探测值”可以是预先设置的值，或者，可选的是自动设置的值。对于后一种情况，例如，可以采用根据第二方面的结构。

根据本发明的第二方面的毫米波成像设备，进一步包括基准设置装置，其将由所述基准毫米波传感器在预定时机探测的所述探测值设置为所述基准探测值。所述校正值设置装置将由所述基准毫米波传感器探测的所述探测值与由所述基准设置装置设置的所述基准探测值之间的所述误差设置为对于所述各个毫米波传感器的校正值。

该结构中的“预定时机”可以是在任何时机。例如，可以采用，用户实施特定操作时或者所述毫米波成像设备被启动并且成像被初始化时的时机。

此外，在上述结构中的每一个中，所述毫米波传感器组可以是其中多个毫米波传感器被以矩阵状态布置的毫米波传感器阵列。可选地，可以采用其中多个毫米波传感器被布置成一行的毫米波线传感器。

为了采用所述线传感器作为所述毫米波传感器组，上述结构中的每一个可以根据第三结构（第三方面）布置。