[发明专利]光电转换装置和其制造方法无效

专利信息
申请号: 201080056836.3 申请日: 2010-12-13
公开(公告)号: CN102668111A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 村田和哉;松本光弘 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: H01L31/04 分类号: H01L31/04
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光电 转换 装置 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种光电转换装置,其特征在于:

包括光电转换单元,该光电转换单元层叠有包含p型掺杂剂的p型层、作为成为发电层的微晶硅层的i型层和包含n型掺杂剂的n型层,

所述p型层具有第一p型层和第二p型层的层叠结构,所述第一p型层是微晶硅层,所述第二p型层配置在所述微晶硅p型层与所述i型层之间,并且包括非晶硅p型层和非晶碳化硅p型层中的至少一个。

2.如权利要求1所述的光电转换装置,其特征在于:

所述第二p型层在所述i型层一侧具备氧化层。

3.如权利要求1或2所述的光电转换装置,其特征在于:

在所述第二p型层与所述i型层之间具备缓冲层,所述缓冲层包括在比所述i型层结晶性高的条件下成膜的微晶硅层。

4.如权利要求1或2所述的光电转换装置,其特征在于:

在所述第二p型层与所述i型层之间具备缓冲层,所述缓冲层包括非晶硅层和在比所述i型层结晶性高的条件下成膜的微晶硅层的层叠结构。

5.如权利要求1~4中任意一项所述的光电转换装置,其特征在于:

所述第二p型层的膜厚是1nm以上4.5nm以下。

6.如权利要求3所述的光电转换装置,其特征在于:

所述缓冲层的膜厚是8nm以上100nm以下。

7.如权利要求1所述的光电转换装置,其特征在于:

在所述i型层的光入射侧层叠有成为发电层的非晶硅层。

8.一种光电转换装置的制造方法,其特征在于:

所述光电转换装置包括光电转换单元,所述光电转换单元层叠有包含p型掺杂剂的p型层、作为成为发电层的微晶硅层的i型层和包含n型掺杂剂的n型层,

所述光电转换装置的制造方法包括:

作为所述p型层,形成作为微晶硅层的第一p型层,在所述微晶硅p型层与所述i型层之间形成包括非晶硅p型层和非晶碳化硅p型层中的至少一个的第二p型层的工序;和

将所述第二p型层的所述i型层一侧氧化的工序。

9.如权利要求8所述的光电转换装置的制造方法,其特征在于:

将所述第二p型层的所述i型层一侧氧化的工序,是在形成所述p型层之后将所述p型层暴露在大气的工序。

10.如权利要求8或9所述的光电转换装置的制造方法,其特征在于:

包括在所述第二p型层与所述i型层之间形成缓冲层的工序,所述缓冲层包括在比所述i型层结晶性高的条件下成膜的微晶硅层。

11.如权利要求8或9所述的光电转换装置的制造方法,其特征在于:

包括在所述第二p型层与所述i型层之间形成缓冲层的工序,所述缓冲层包括非晶硅层和在比所述i型层结晶性高的条件下成膜的微晶硅层的层叠结构。

12.如权利要求8所述的光电转换装置的制造方法,其特征在于:

包括在所述i型层的光入射侧层叠有第二i型层的光电转换单元,所述第二i型层是成为发电层的非晶硅层,

还具备在形成所述第一p型层和所述第二p型层的工序之前形成所述第二i型层的工序,

在形成所述第二i型层的工序与形成所述第一p型层和所述第二p型层的工序之间,不包括将已形成的层暴露在大气的工序。

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