[发明专利]光电转换装置和其制造方法无效
申请号: | 201080056836.3 | 申请日: | 2010-12-13 |
公开(公告)号: | CN102668111A | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 村田和哉;松本光弘 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 转换 装置 制造 方法 | ||
1.一种光电转换装置,其特征在于:
包括光电转换单元,该光电转换单元层叠有包含p型掺杂剂的p型层、作为成为发电层的微晶硅层的i型层和包含n型掺杂剂的n型层,
所述p型层具有第一p型层和第二p型层的层叠结构,所述第一p型层是微晶硅层,所述第二p型层配置在所述微晶硅p型层与所述i型层之间,并且包括非晶硅p型层和非晶碳化硅p型层中的至少一个。
2.如权利要求1所述的光电转换装置,其特征在于:
所述第二p型层在所述i型层一侧具备氧化层。
3.如权利要求1或2所述的光电转换装置,其特征在于:
在所述第二p型层与所述i型层之间具备缓冲层,所述缓冲层包括在比所述i型层结晶性高的条件下成膜的微晶硅层。
4.如权利要求1或2所述的光电转换装置,其特征在于:
在所述第二p型层与所述i型层之间具备缓冲层,所述缓冲层包括非晶硅层和在比所述i型层结晶性高的条件下成膜的微晶硅层的层叠结构。
5.如权利要求1~4中任意一项所述的光电转换装置,其特征在于:
所述第二p型层的膜厚是1nm以上4.5nm以下。
6.如权利要求3所述的光电转换装置,其特征在于:
所述缓冲层的膜厚是8nm以上100nm以下。
7.如权利要求1所述的光电转换装置,其特征在于:
在所述i型层的光入射侧层叠有成为发电层的非晶硅层。
8.一种光电转换装置的制造方法,其特征在于:
所述光电转换装置包括光电转换单元,所述光电转换单元层叠有包含p型掺杂剂的p型层、作为成为发电层的微晶硅层的i型层和包含n型掺杂剂的n型层,
所述光电转换装置的制造方法包括:
作为所述p型层,形成作为微晶硅层的第一p型层,在所述微晶硅p型层与所述i型层之间形成包括非晶硅p型层和非晶碳化硅p型层中的至少一个的第二p型层的工序;和
将所述第二p型层的所述i型层一侧氧化的工序。
9.如权利要求8所述的光电转换装置的制造方法,其特征在于:
将所述第二p型层的所述i型层一侧氧化的工序,是在形成所述p型层之后将所述p型层暴露在大气的工序。
10.如权利要求8或9所述的光电转换装置的制造方法,其特征在于:
包括在所述第二p型层与所述i型层之间形成缓冲层的工序,所述缓冲层包括在比所述i型层结晶性高的条件下成膜的微晶硅层。
11.如权利要求8或9所述的光电转换装置的制造方法,其特征在于:
包括在所述第二p型层与所述i型层之间形成缓冲层的工序,所述缓冲层包括非晶硅层和在比所述i型层结晶性高的条件下成膜的微晶硅层的层叠结构。
12.如权利要求8所述的光电转换装置的制造方法,其特征在于:
包括在所述i型层的光入射侧层叠有第二i型层的光电转换单元,所述第二i型层是成为发电层的非晶硅层,
还具备在形成所述第一p型层和所述第二p型层的工序之前形成所述第二i型层的工序,
在形成所述第二i型层的工序与形成所述第一p型层和所述第二p型层的工序之间,不包括将已形成的层暴露在大气的工序。
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