[发明专利]多色成像系统和方法无效

专利信息
申请号: 201080058203.6 申请日: 2010-11-17
公开(公告)号: CN102741682A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 斯图尔特·米尔斯 申请(专利权)人: 布勒索泰克斯有限公司
主分类号: G01N21/85 分类号: G01N21/85;B07C5/342
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 韩明星
地址: 英国*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
搜索关键词: 多色 成像 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种对产品流中的产品进行多色(multi-chromatic)成像的方法和多色成像系统,特别是在将例如食物和塑料部件比如塑料小球(pellet)以流(flow)的形式进行大量存储时。

背景技术

多色成像相比于单色成像提供用于产品的改进检测,因它提供基于多于一种特征的产品的特征化。另外,运用色反射(chromatic reflection)的强度(intensity)的比率的多色成像优于运用单一测得强度的单色成像,因它较少受入射角度的影响,特别是关于边缘。

对产品流中的产品进行多色成像的成像系统已存在。一种这类成像系统在US-A-2009/0079970中公开,它利用单个光电检测器提供用于多波长的检测。

发明内容

本发明的目的是,提供一种利用多个线阵列检测器优选以更低成本进行产品的多色成像的方法和多色成像系统。

在本发明的一个方面中,提供一种用于对产品流中的产品进行成像的成像系统,该系统包括:用于利用在第一和第二不同波长或不同波长范围内的照明对所述产品流中的产品进行照明的照明单元;用于检测从所述产品流中的产品反射的照明的检测器单元,其中,所述检测器单元包括第一和第二线阵列检测器,所述线阵列检测器各包括多个像素元并且延伸成所述线跨越所述产品流的宽度,而一线在另一线的下游,由此,经过了第一线阵列检测器的像素元的产品经过第二线阵列检测器的对应的像素元;用于触发所述第一和第二照明源按照与所述产品流的流动速率相对应的扫描速率进行顺序闪光的控制单元;和图像处理单元,用于连续读取所述第一和第二线阵列检测器的像素线并且在各照明波长或照明波长范围内构建所述产品的图像。

在本发明的另外一个方面中,提供一种用于对产品流中的产品进行成像的成像系统,该系统包括:用于利用在第一和第二不同波长或不同波长范围内的照明对所述产品流中的产品进行照明的照明单元;用于检测从所述产品流中的产品反射的照明的检测器单元,其中,所述检测器单元包括第一和第二线阵列检测器,所述线阵列检测器各包括多个像素元并且延伸成所述线跨越所述产品流的宽度,而一线在另一线的下游,由此,经过了第一线阵列检测器的像素元的产品经过第二线阵列检测器的对应的像素元;用于触发所述第一和第二照明源按照与所述产品流的流动速率相对应的扫描速率进行顺序闪光的控制单元;和图像处理单元,用于连续读取所述第一和第二线阵列检测器的像素线以在各照明波长或照明波长范围内提供用于所述产品的特征化。

在本发明的又一方面中,提供一种对产品流中的产品进行成像的方法,该方法包括以下步骤:利用在第一和第二不同波长或不同波长范围内的照明、按照与所述产品流的流动速率相对应的扫描速率、对所述产品流中的产品进行顺序照明;检测从所述产品流中的产品反射的照明,其中,所述反射的照明由第一和第二线阵列检测器检测,所述线阵列检测器各包括多个像素元并且延伸成所述线跨越所述产品流的宽度,而一线在另一线的下游,由此,经过了第一线阵列检测器的像素元的产品经过第二线阵列检测器的对应的像素元;和连续读取所述第一和第二线阵列检测器的像素线并且在各照明波长或照明波长范围内构建所述产品的图像。

在本发明的再一方面中,提供一种对产品流中的产品进行成像的方法,该方法包括以下步骤:利用在第一和第二不同波长或不同波长范围内的照明、按照与所述产品流的流动速率相对应的扫描速率、对所述产品流中的产品进行顺序照明;检测从所述产品流中的产品反射的照明,其中,所述反射的照明由第一和第二线阵列检测器检测,所述线阵列检测器各包括多个像素元并且延伸成所述线跨越所述产品流的宽度,而一线在另一线的下游,由此,经过了第一线阵列检测器的像素元的产品经过第二线阵列检测器的对应的像素元;和连续读取所述第一和第二线阵列检测器的像素线以在各照明波长或照明波长范围内提供用于所述产品的特征化。

在优选实施例中,采用了经由单个透镜接收反射的辐射的多个非过滤式线阵列检测器。

附图说明

现在下文中将参考附图仅以示例的方式描述本发明优选实施例,在附图中:

图1示意地表示根据本发明第一实施例的双色成像系统;

图2(a)示出在第一成像阶段中的图1的成像系统,其中利用在第一波长的照明对该产品进行照明;

图2(b)示出在第二成像阶段中的图1的成像系统,其中利用在第二不同波长的照明对该产品进行照明;

图3示意地示出产品流中经过图1的成像系统的第一和第二线阵列检测器的产品;

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