[发明专利]隧道结过孔有效
申请号: | 201080060898.1 | 申请日: | 2010-11-16 |
公开(公告)号: | CN102714173A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | M.C.盖蒂斯 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/525 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 周少杰 |
地址: | 美国纽*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 隧道 | ||
1.一种形成隧道结TJ电路的方法,该方法包括:
形成底部布线层;
形成接触底部布线层的多个TJ;
与多个TJ的形成同时形成多个隧道结过孔TJV,所述TJV接触底部布线层;以及
形成接触多个TJ和多个TJV的顶部布线层。
2.如权利要求1所述的方法,还包括与多个TJ分离地电寻址多个TJV。
3.如权利要求2所述的方法,还包括使多个TJV经受配置为引起多个TJV短路击穿的电压。
4.如权利要求1所述的方法,还包括形成多个TJV,使得多个TJV包括至少一个凹表面。
5.如权利要求4所述的方法,其中,形成多个TJ以及多个TJV包括刻蚀,以及多个TJV的至少一个凹表面配置为在刻蚀期间捕获刻蚀的材料,以便减小多个TJV的电阻。
6.如权利要求4所述的方法,其中,形成多个TJ以及多个TJV包括刻蚀,以及多个TJV的至少一个凹表面配置为在刻蚀期间捕获刻蚀的材料,以便当经受配置为引起多个TJV的短路击穿的电压时,引起多个TJV结构的短路击穿。
7.如权利要求1所述的方法,其中,多个TJV的至少一个大于多个TJ的至少一个。
8.如权利要求1所述的方法,其中,底部布线层包括前段制程FEOL布线层,以及顶部布线层包括后段制程BEOL布线层。
9.如权利要求1所述的方法,其中,多个TJ以及多个TJV每个包括由隧道势垒分离的两层导电材料。
10.一种包括多个隧道结TJ的电路,该电路包括:
接触多个TJ的底部布线层,底部布线层还接触多个隧道结过孔TJV,其中,多个TJ和多个TJV包括相同的材料;以及
接触多个TJ和多个TJV的顶部布线层。
11.如权利要求10所述的电路,其中,多个TJV是与多个TJ分离地电可寻址的。
12.如权利要求10所述的电路,其中,多个TJV的至少一个包括短路。
13.如权利要求10所述的电路,其中,多个TJV的至少一个大于多个TJ的至少一个。
14.如权利要求10所述的电路,其中,多个TJV的至少一个包括至少一个凹表面。
15.如权利要求14所述的电路,其中,通过刻蚀形成多个TJ和多个TJV,以及多个TJV的至少一个凹表面配置为在刻蚀期间捕获刻蚀的材料。
16.如权利要求10所述的电路,其中,底部布线层包括前段制程FEOL布线层,以及顶部布线层包括后段制程BEOL布线层。
17.如权利要求10所述的电路,其中,多个TJ和多个TJV每个包括通过隧道势垒分离的两层导电材料。
18.一种隧道结过孔TJV,所述隧道结过孔为了夹层低电阻连接的目的,将顶部布线层连接到底部布线层,所述隧道结过孔包括:
第一层导电材料;
第一层导电材料顶部上的隧道势垒;以及
隧道势垒顶部上的第二层导电材料,其中,TJV包括顶部布线层和底部布线层之间的低电阻连接。
19.如权利要求18所述的隧道结过孔TJV,其中,TJV包括至少一个凹表面。
20.如权利要求19所述的隧道结过孔TJV,其中,通过刻蚀形成TJV,以及TJV的至少一个凹表面配置为在刻蚀期间捕获刻蚀的材料。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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