[发明专利]成对的可编程熔断器

说明书

通过引用包含的文件

在2008年12月2日颁发的共同转让的美国专利No.7,461,268被包含于此，用于示出使用被称为“电子熔断器”的电子可编程熔断器提供数据的永久存储。

技术领域

本发明涉及利用熔断器的数据的永久存储，并且更具体地涉及这样的熔断器的编程和编码。

背景技术

熔断器（Fuses）可以被布置来例如通过选择性地烧断熔断器以编码数据来提供数据的永久存储。如果熔断器完整，则熔断器通常被认为是二进制“0”，如果熔断器被烧断，则熔断器通常被认为是二进制“1”。因此，选择性地烧断熔断器产生二进制数。

用于数据的永久存储的熔断器的示例包括电子熔断器（e-Fuses）和激光熔断器。如在所包含的′268′专利中所讨论的，通过向熔断器施加高烧断电压来使得电子熔断器能够被电子编程或写入。通过将数据锁存到寄存器中来读取数据。通过向熔断器施加激光将其过热来烧断激光熔断器。

可以使用熔断器来编码意欲保持不变并且期望无限地被保持而不需要电池备份的数据。这样的数据的一个示例包括装置序列号和关于装置的数据。一旦已经编码了数据，则通常不能改变数据。另一个示例包括永久加密密钥，诸如可以用于加密和解密诸如装置元数据的、关于嵌入熔断器的装置的数据的永久加密密钥。加密引擎仅具有对用于加密或解密数据的加密密钥的访问，但是一旦已经编码了密钥，则没有替代的访问。

可以通过例如在特定设施处的装置制造商来编码关于装置的数据。加密密钥要求充分的安全，并且在充分安全的位置处被编码，并且一旦被编码，则可以通过破坏对于编码设备的访问来防止进一步的编码。在激光熔断器的情况下，可以通过防止熔断器的光学读取和防止进一步编码的层来覆盖编码的熔断器。在电子熔断器的情况下，例如通过烧断主熔断器来限制对加密密钥的外部访问和防止写入，或者，如在包含的′268′专利中所述，电子熔断器可以随着时间在一个方向上实现单调更新，诸如仅可以增大的版本值。

一个问题是可能包括向编码处理引入一个或多个错误，因为在编码处理之前、期间和之后，熔断器可能意外被烧断。通常，这样的错误要求必须丢弃包含熔断器的整个芯片。一旦已经烧断了阻熔断器，则可能无法确定是否已经烧断了意欲不烧断的熔断器。用户知道的所有情况是，包含该芯片的装置不再工作，因为它不能正确地读取其元数据。另一个问题是可能包括对不再被需要或折衷的编码熔断器的处置。必须保护该处置以防止未经授权的使用。

发明内容

提供了方法、熔断器编码系统、熔断器编程系统和装置。

在一个实施例中，熔断器编码系统包括多个熔断器，所述多个熔断器被成对地布置，并且被配置为每对熔断器当烧断所述一对的一个熔断器时表示数据比特；当所述一对的熔断器都未被烧断时表示未编程的比特；并且，当所述一对的两个熔断器都被烧断时表示零化比特。成对地布置所述熔断器允许检测和报告有效比特，而不识别任何比特的值。

在另一个实施例中，所述熔断器编码系统还包括检测系统，所述检测系统被配置为检测任何对的熔断器是否被零化，零化例如会使该组熔断器不可用。

在另一个实施例中，熔断器编程系统包括：成对布置的多个熔断器；以及熔断器烧断系统，其被配置为编程所述对的熔断器，使得每对表示一个比特，包括烧断一对的第一熔断器以表示比特1，烧断一对的第二熔断器以表示比特0，并且烧断一对的两个熔断器以表示零化对，由此如果一对的熔断器都未被烧断，则表示空的未编程的比特。

在另一个实施例中，测试系统被配置为在编程一对熔断器前测试一对熔断器的两个比特，以测试是否所述一对的每个熔断器被烧断。

而且，在一个实施例中，存储系统被配置为识别由所述测试系统发现的使所述对的一个熔断器烧断的任何比特对；并且，所述熔断器烧断系统被配置为跳过和不烧断所述找到的熔断器对的任何熔断器。所述被烧断的熔断器正确的机会是50%。

在另一个实施例中，试验测试系统被配置为通过运行试验来测试所述编程的有效性；并且，如果所述试验失败，则表示被识别的比特对包括反相比特。试验失败表示被烧断的熔断器不正确。可以改变数据以适配所述反相比特。

在另一个实施例中，检测系统被配置为在编程所述对的任何一个前，检测所有对的熔断器是否包括空的未编程的比特，否则任何对是非空的。

在另一个实施例中，测试系统被配置为在编程每对熔断器之后，测试每对熔断器的有效性。