[发明专利]流路装置以及包含流路装置的样品处理装置有效
申请号: | 201080062094.5 | 申请日: | 2010-07-26 |
公开(公告)号: | CN102725060A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 山本贵富喜 | 申请(专利权)人: | 独立行政法人科学技术振兴机构 |
主分类号: | B01J19/00 | 分类号: | B01J19/00;B81B1/00;C12M1/00;G01N15/14;G01N27/00;G01N37/00 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 张华卿;郑霞 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 以及 包含 样品 处理 | ||
1.一种流路装置,其具有使一个分子流过的纳米尺寸流路,并且至少一个电极对配置于所述纳米尺寸流路附近,并且所述流路装置具有用于向所述电极施加交流电压的交流电源。
2.如权利要求1所述的流路装置,其特征在于,所述电极暴露于所述流路,或者在所述电极和所述流路之间存在绝缘层,因此使得所述电极不会暴露于所述流路。
3.一种流路装置,具备:使一个分子流过的纳米尺寸流路、分支部,以及多个分支流路,i)在所述纳米尺寸流路的附近,以夹住该纳米尺寸流路的方式配置有电极对,或ii)电极对中的一个配置于所述纳米尺寸流路的附近,所述电极对中的另一个配置于所述分支流路的附近。
4.如权利要求3所述的流路装置,其特征在于,所述电极暴露于所述流路,或者在所述电极和所述流路之间存在绝缘层,因此使得所述电极不会暴露于所述流路。
5.如权利要求3所述的流路装置,其特征在于,所述分支流路的截面的大小为纳米尺寸。
6.一种流路装置,具备:使一个分子流过的纳米尺寸流路、分支部,以及多个分支流路。
7.如权利要求6所述的流路装置,其特征在于,所述分支流路的截面的大小为纳米尺寸。
8.一种样品处理装置,具备:(1)流路装置,其具有使一个分子流过的纳米尺寸流路,且在所述纳米尺寸流路附近配置有至少一个电极对;(2)交流电源,其用于向所述电极施加交流电压;以及(3)测定部,其对包含于流过所述流路的样品中的一个分子进行鉴定。
9.一种样品处理装置,具备:(1)流路装置,其具备使一个分子流过的纳米尺寸流路、分支部,以及多个分支流路,i)在所述纳米尺寸流路的附近,以夹住该纳米尺寸流路的方式配置有电极对,或ii)电极对中的一个配置于所述纳米尺寸流路的附近,且所述电极对中的另一个配置于所述分支流路的附近;以及(2)切换部,其经由所述电极对向包含于流过所述流路的样品中的一个分子给予电刺激,由此促进所述分子的力学行为,并且通过该力学行为将所述分子诱导至规定的分支流路。
10.如权利要求9所述的流路装置,其特征在于,所述分支流路的截面的大小为纳米尺寸。
11.一种样品处理装置,用于对包含于样品中的分子进行鉴定,其特征在于,具备:
流路装置,其包含用于注入样品的注入部和具有纳米级尺寸的截面大小且用于允许包含于所述样品中的分子移动通过的纳米尺寸流路;
测定部,其在设置于所述纳米尺寸流路的电极对的电极间施加电压,且对所述分子通过所述电极间时的阻抗进行测定;以及
运算处理部,其根据由所述测定部测定的阻抗值,对所述分子进行鉴定。
12.如权利要求11所述的样品处理装置,其特征在于,具备:
多个输出部,其用于将移动通过所述纳米尺寸流路的分子取出;和
分子分离部,其将所述鉴定的分子分离,其中
所述纳米尺寸流路具备在其端部的分支部和从该分支部连接于所述输出部的多个分支流路,并且
所述分子分离部将所述鉴定的分子从所述纳米流路诱导至所述多个分支流路中的规定分支流路。
13.如权利要求12所述的样品处理装置,其特征在于,
所述分子分离部具有:
规定电极,其通过设于所述纳米流路侧的电极对或共用的电极构成;
多个出口电极,其分别设于所述多个分支流路侧;
电压施加部,其用于向所述规定电极的对,或向所述多个出口电极中的任一个和所述规定电极施加电压;
切换部,其用于选择i)所述规定电极的对或ii)由所述多个出口电极中的任一个和所述规定电极构成的对,
其中所述运算处理部根据所述鉴定的分子的信息来选择所述对,并且以施加所述电压的方式对所述分子分离部进行控制。
14.如权利要求13所述的样品处理装置,其特征在于,
所述纳米尺寸流路设有多个电极对,该各电极对以相隔规定的间隔进行配置,
所述测量部对所述分子通过所述各电极对时的阻抗进行测定,
所述运算处理部根据测定的阻抗值的测定时间差算出所述分子的移动速度,并且根据算出的分子的移动速度对施加所述电压的时机进行控制。
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