[发明专利]X射线探测器的校准方法无效
| 申请号： | 201080062557.8 | 申请日： | 2010-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN102725659A | 公开（公告）日： | 2012-10-10 |
| 发明（设计）人： | F·格拉塞尔;M·加尔桑 | 申请（专利权）人： | 原子能和能源替代品委员会 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人： | 程伟;王锦阳 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射线 探测器 校准 方法 | ||
1.一种X射线探测系统的校准方法，所述系统至少包括一个X射线发生器和探测阵列，所述探测阵列包括探测半导体像素矩阵（10）以及处理和校准电子设备（20，21，22，23），其特征在于，对于所有或一些像素所述校准方法包括以下各个步骤：
-以额定高电压运行所述X射线发生器，所述发生器与所述探测器对置；
-使用所述处理和校准电子设备，经由发生器所产生的辐射效应，对每一个像素所发出的脉冲进行计数;
-为每一像素建立被计数脉冲的振幅分布；
-将统计指标应用于每一个振幅分布，以识别对应于与所述统计指标关联的能量的特定振幅，与所述振幅分布有关的所述统计指标为所述分布的百分点或均值；以及
-使用处理和校准电子设备调整每一个像素的校准参数，从而将由此建立的能量-振幅关系考虑在内。
2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，与所述振幅分布有关的统计指标为所述分布的中值。
3.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述统计指标为不同百分点的组合。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的校准方法，其特征在于，在每一个像素中，所述像素的处理与校准电子设备将与对应于所述指标的信号振幅对应的能量值处理为能量阈值（Th（i））。
5.根据权利要求4所述的校准方法，其特征在于，所述最低等级的阈值（Th（1））位于处理电子设备的电气噪声之上。
6.根据权利要求4和5中任一项所述的校准方法，其特征在于，所述像素的处理和校准电子设备没有对振幅小于所述阈值的脉冲进行处理。
7.根据权利要求4所述的校准方法，其特征在于，所述像素的处理和校准电子设备确定至少一个能量窗，所述窗位于第一阈值与第二阈值之间。
8.根据权利要求7所述的校准方法，其特征在于，所述像素的处理和校准电子设备将每一个分布划分为同样多的能量窗。
9.根据权利要求8所述的校准方法，其特征在于，对探测矩阵中的所有像素执行以下操作，即将由每一个像素接收的每一个分布划分成同样多的能量窗。
10.根据权利要求8所述的校准方法，其特征在于，对探测矩阵中的某些像素执行以下操作，即将由每一个像素接收的每一个分布划分成同样多的能量窗。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的校准方法，其特征在于，所述探测系统在两个测量之间系统地执行所述校准方法。
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