[发明专利]检测分析物

权利要求书

1.一种用于检测分析物的方法，该方法包括：

a)对该分析物施加一个交流电压，其中该交流电压包括足以通过电化学阻抗谱法（EIS）区分该分析物的存在性的多个叠加的频率；并且

b)由该EIS数据确定该分析物的身份和/或量。

2.根据权利要求1所述的方法，其中该EIS数据包括从复阻抗（x+iy）获得的数据参数，这些参数是选自以下一项或多项：

实分量（x）

虚分量（y）

模数或绝对值（r=|z|=(x²+y²)^1/2）

角度（θ=tan^-1(y/x)）

主分量1

主分量2。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中该多个频率是在步骤(a)之前通过统计分析、和/或通过经验方法确定的。

4.根据上述任何权利要求所述的方法，其中叠加的频率的最小数目是从2到20。

5.根据权利要求4所述的方法，其中叠加的频率的最小数目是至少3-10。

6.根据权利要求5所述的方法，其中叠加的频率的最小数目是至少7。

7.根据以上权利要求中任何一项所述的方法，其中步骤(b)包括一个在该EIS数据上进行傅里叶变换的步骤。

8.一种用于检测分析物的方法，该方法包括：

d)对该分析物施加一个交流电压；

e)确定该分析物上EIS测量值的变化速率；

f)由该变化速率数据确定该分析物的身份和/或量。

9.根据权利要求8所述的方法，其中这些EIS测量值是对电子转移电阻Ret的测量值。

10.根据权利要求8或权利要求9所述的方法，其中这些EIS测量值是通过寻找尼奎斯特曲线中半圆特征的宽度而计算出的测量值。

11.根据以上权利要求中任何一项所述的方法，其中向该系统添加一种电解质以辅助EIS测量。

12.根据权利要求11所述的方法，其中该电解质是一种过渡金属络合物。

13.根据权利要求11所述的方法，其中该过渡金属络合物包括（Fe(CN)₆）^3-/4-体系。

14.根据以上权利要求中任何一项所述的方法，其中在该系统中采用一种液体介质以辅助EIS测量。

15.根据权利要求14所述的方法，其中该液体介质包括H₂SO₄。

16.根据以上权利要求中任何一项所述的方法，其中该方法是用于分析两种或更多分析物，并且进一步包括以下步骤：对每种分析物用一个或多个标记物做标记以形成多种通过其标记而彼此可区分的、带标记的分析物。

17.根据权利要求16所述的方法，其中该一个或多个标记物适合于光学和/或电学检测。

18.根据权利要求17所述的方法，其中这些标记物是选自纳米颗粒、单分子、化学发光酶以及荧光体。

19.根据权利要求18所述的方法，其中这些标记物是包含分子和/或原子集合的纳米颗粒。

20.根据权利要求19所述的方法，其中这些纳米颗粒是选自金属、金属纳米壳、金属二元化合物以及量子点。

21.根据权利要求20所述的方法，其中这些纳米颗粒是选自以下的金属化合物：CdSe、ZnS、CdTe、CdS、PbS、PbSe、HgI、ZnTe、GaAs、HgS、CdAs、CdP、ZnP、AgS、InP、GaP、GaInP、和InGaN。

22.根据权利要求21所述的方法，其中这些纳米颗粒是选自金、银、铜、镉、硒、钯和铂。

23.根据权利要求18至22中任一项所述的方法，其中这些纳米颗粒的直径小于100nm。